連接器鍍金鍍鎳鍍錫測厚儀 返回列表頁

X射線測厚儀：

全自動臺面，自動雷射對焦，多點自動測量，X射線管自動睡眠功能

韓國XRF-2000X射線測厚儀

檢測電子電鍍,化學電鍍層厚度,
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,

Micro XRF-2000 X射測厚儀系列

測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)

使用X熒光射線可作非接觸非破壞快速分析膜層

擁有多種濾波器選擇

各種樣品單層至多層（5層），合金膜層與溶液均可測量

定點自動定位分析

光徑對準全自動

影像重疊功能

自動顯示測量參數(shù)

彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)

韓國XRF-2000鍍金X射線鍍層測厚儀精度控制：

*層：±5%以內(nèi),第二層：±8%以內(nèi), 第三層：±15%以內(nèi)

鍍金X射線鍍層測厚儀