普業(yè)供應GWB-200JA引伸計標定儀 附計量檢定證書（濟南普業(yè)機電技術有限公司）

　　GWB－200JA型引伸計標定儀，是一種純機械式的高精度位移測微儀器。依據JJG762－92引伸計檢定規(guī)程要求，專門用于對各類引伸計的標定，也廣泛用于位移傳感器的檢定及相應百分表、千分表的檢定。

一、結構特點及讀數方式

　　1、本儀器由精密微分測頭及測量支架組成。該標定儀是積木式結構設計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合，同時配有加長立柱附件，配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣，可以方便地進行多種規(guī)格型號引伸計的計量標定。用戶還可以根據自己的測試特殊需要，配置專用配件進行精密微變形量計量。

　　2、精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數內筒、讀數外筒及高精密螺紋付組成。其量程25㎜；小分度（游標分度）0.0002㎜；旋轉外筒分度0.002㎜。位移變化讀數為：L=（a+0.001b+0.0001c）-(a0+0.001b0+0.001c0)其中：a－內筒毫米刻線讀數b－外筒刻線讀數c－游標刻線讀數a0 b0 c0 為相應位移變化前讀數

二、各項技術精度指標

　　1、測量引伸計標距范圍Ｌmax 500㎜

　　2、測量支座上支臂安裝孔徑 φ10；φ28

　　3、微分測頭讀數內筒軸向刻度 0.5㎜/格

　　4、微分測頭讀數內筒游標刻度 0.0002㎜/格

　　5、微分測頭讀數外筒園周刻度 0.002㎜/格

　　6、高精密微分測頭精度指標

　　標定儀示值誤差：

　　量程0.5㎜以內≤0.5μm 誤差

　　量程0.5㎜以上≤0.10% 逐點相對誤差

　　參照標準：

　　JJF1096-2002 引伸計標定器校準規(guī)范

　　ISO9513:1999 金屬材料單軸試驗用引伸計標定

　　JJG762-1992 引伸計檢定規(guī)程

　　可進行0.5級引伸計的標定。