ELEMENT GD輝光放電質(zhì)譜儀
Element GD輝光放電質(zhì)譜儀將輝光放電離子源和高分辨率質(zhì)譜儀相結(jié)合,可直接分析導(dǎo)電材料。
ELEMENT GD專為高純度金屬檢測(cè)以及相應(yīng)行業(yè)所設(shè)計(jì)。 ELEMENT GD離子源和樣品架的設(shè)計(jì)使樣品切換更簡(jiǎn)易,方便日常操作和高通量檢測(cè)。
- 幾乎可以常規(guī)定量檢測(cè)固體樣品中出現(xiàn)的所有元素,包括碳、氧和氮: 許多元素的檢測(cè)下限可低至ppb級(jí)
高流速輝光放電池 - 高濺射速率-分析時(shí)間短
- 高能量離子源-高靈敏度
雙聚焦質(zhì)譜儀 - 高離子傳輸率和低背景使得信噪比可達(dá)亞ppb級(jí)檢測(cè)限
- 高質(zhì)量分辨率可得到*選擇性和準(zhǔn)確度: 獲得zui可靠分析結(jié)果的先決條件
十二數(shù)量級(jí)的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng) - 在一次分析中測(cè)定基體和超痕量元素,全自動(dòng)檢測(cè)器涵蓋12數(shù)量級(jí)動(dòng)態(tài)線性范圍
- 直接定量測(cè)定基體元素IBR(離子束比率)
高效率和簡(jiǎn)單易用的軟件包 - 所有參數(shù)均由計(jì)算機(jī)控制
- 全自動(dòng)調(diào)諧、分析和數(shù)據(jù)評(píng)估
- 自動(dòng)LIMS連接性
- 遠(yuǎn)程控制和診斷
- Windows XP操作系統(tǒng)
- 樣品處理時(shí)間少于10分鐘
- 在一次分析中從基體到超痕量元素的檢測(cè)能力
- 深度剖析
- zui小化基體效應(yīng),便于進(jìn)行定量分析
Recommended for: 微電子學(xué) 航天 醫(yī)療/制藥/食品 核工業(yè) |
所有評(píng)論僅代表網(wǎng)友意見(jiàn),與本站立場(chǎng)無(wú)關(guān)。