滿足標(biāo)準(zhǔn)：

滿足GB10586-2006：濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件 

GB10589-2008：低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）

GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)的國家標(biāo)準(zhǔn)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)