概述:
深圳市方源儀器有限公司—英國牛津儀器中國總代理商!臺式XRF射線熒光分析儀X-Strata920是一款低成本高效率、快速可靠的鍍層厚度測量及材料分析設備。利用X射線熒光(XRF)進行鍍層厚度測量和材料分析,提高過程和質量控制。
臺式XRF射線熒光分析儀X-Strata920鍍層測厚儀是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備,提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
X-Strata920 在工業(yè)領域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力,可進行多鍍層厚度的測量。
為這些行業(yè)提供了:
以更有效的過程控制來提高生產(chǎn)力
有助電鍍過程中的生產(chǎn)成本zui小化、產(chǎn)量zui大化
快速無損地分析珠寶及其他合金
快速分析多達4層鍍層
操作簡單,只需要簡單的培訓
無損分析:無需樣品制備
經(jīng)行業(yè)認證的技術和可靠性,確保每年都帶來收益
分析只需三步驟
杰出的分析準確性和精確性
在鍍層測厚領域擁有超過20年的豐富經(jīng)驗
鍍層測厚儀X-Strata系列使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量,保證質量的同時降低成本。
的性能:
快速、精確的分析:大面積正比計數(shù)探測器和牛津儀器50瓦微聚焦X射線光管(X射線光束強度大、斑點小,樣品激發(fā)佳)相結合,提供*靈敏度
簡單的元素區(qū)分:通過次級射線濾波器分離元素的重疊光譜
性能優(yōu)化,可分析的元素范圍大:X-Strata920 預置800多種容易選擇的應用參數(shù)/方法
的*穩(wěn)定性:
自動熱補償功能測量儀器溫度變化并做修正,確保穩(wěn)定的測試結果
例行進行簡單快 速的波譜校 準,可自 動檢查儀器性能(例如靈敏性)并進行必要的修正
堅固耐用的設計
可在實驗室或生產(chǎn)線上操作
堅固的工業(yè)設計
運用領域行業(yè):
電子行業(yè)
電子、電氣原件
有效控制生產(chǎn)過程,提高生產(chǎn)力
確保元件可靠性
同時測量焊料合金成份和鍍層厚度
優(yōu)化質量控制,確保產(chǎn)品生命期
例如:
分析導電性鍍層金和鈀的厚度
測量電腦硬盤上的NiP層厚度
五金電鍍行業(yè)
電鍍處理的成本zui小化,產(chǎn)量zui大化
快速簡單的分析
同時進行單層或多層鍍層厚度測量及成份分析
zui多可分析4層鍍層
鍍液成份分析
金屬合金行業(yè)
金屬合金成份分析和牌號認定
珠寶及其他合金的快速無損分析
貴金屬合金分析
黃金純度分析
材料鑒定
產(chǎn)品技術參數(shù):
三種配置選項
固定樣品臺
樣品臺位置固定 經(jīng)濟、實用 平面樣品臺設計,適合高 | 加深樣品臺
高度每英寸(25.4mm)可 | 程控樣品臺
用于自動化測量 方便根據(jù)測試位置放置樣品, 樣品臺尺寸:22"(D) x 24"(w),即560mm (深) x 610mm (寬) 程控臺移動距離:7" x 7", |
更多參數(shù)請!
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