概述:
深圳市方源儀器有限公司—英國(guó)牛津儀器中國(guó)總代理商!PCB孔內(nèi)鍍銅測(cè)厚儀CMI511是一款集快速精確、簡(jiǎn)單易用、質(zhì)量可靠等優(yōu)勢(shì)于一體的手持式孔內(nèi)鍍銅測(cè)厚儀。它專為印刷電路板厚度測(cè)量而設(shè)計(jì),能在蝕刻工序前/后進(jìn)行測(cè)量。*的設(shè)計(jì)使CMI511能夠*勝任對(duì)雙層或多層電路板的測(cè)量,甚至可以穿透錫和錫/鉛抗蝕層進(jìn)行測(cè)量。 另有耗材——孔銅測(cè)厚儀探頭銷售。
PCB孔內(nèi)鍍銅測(cè)厚儀CMI511產(chǎn)品特點(diǎn):
① *的溫度補(bǔ)償特性使其適用于在電鍍過(guò)程中進(jìn)行厚度測(cè)量,從而降低廢料、返工成本。
② 應(yīng)用電渦流測(cè)試技術(shù)。測(cè)量時(shí)利用探頭釋放出電磁波,當(dāng)磁場(chǎng)切割金屬層時(shí)會(huì)發(fā)生磁場(chǎng)變化,通過(guò)計(jì)算此變化量計(jì)算出孔壁銅厚度。
③ 測(cè)量不受板內(nèi)層影響,即使是雙層板或多層板,甚至在有錫或錫/鉛保護(hù)層的情況下,同樣能夠良好工作。
④ 探頭采用溫度補(bǔ)償技術(shù),即使是剛從電鍍槽內(nèi)取出的板,也能及時(shí)測(cè)量孔銅厚度。
⑤ 儀器皮套帶有透明塑料窗口,使用時(shí)無(wú)需將儀器從皮套中取出。
⑥ 儀器無(wú)操作1分鐘后自動(dòng)關(guān)閉以節(jié)約電能
⑦ 出廠前已校準(zhǔn),無(wú)需標(biāo)準(zhǔn)片。
⑧ 在售前和售后都能夠得到牛津儀器的優(yōu)質(zhì)服務(wù)的保證。
技術(shù)參數(shù):
ETP孔銅探頭技術(shù)參數(shù)
--可測(cè)試zui小孔直徑:35 mils (899 μm)
--測(cè)量厚度范圍:0.08 – 4.0 mils (1 – 102 μm)
--電渦流原理:遵守ASTM-E376-96標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定
--準(zhǔn)確度:±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
--精確度:1.2 mil(30μm)時(shí),達(dá)到1.0% (實(shí)驗(yàn)室情況下)
--分辨率:0.01 mils (0.1μm)
--校正方式: 單點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)片校正
--顯示屏: 高亮度液晶顯示屏,1/2英吋(1.27mm)高
--單位: 以按鍵切換公制(um)及英制(mils)單位選擇
--連接阜: RS-232連接阜,用于將數(shù)據(jù)傳輸至計(jì)算機(jī)或打印機(jī)
--統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù): 量測(cè)點(diǎn)數(shù)、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差、zui高值、zui低值、由打印機(jī)可輸出直方圖或CPK圖
--儲(chǔ)存量: 2000條讀數(shù)
--重量: 9OZ(0.26Kg)含電池
--尺寸: 149*794*302 mm
--電池: 9伏干電池或可充電電池
--電池持續(xù)時(shí)間: 9伏干電池-50小時(shí) 9伏充電電池-10小時(shí)
--打印機(jī): 任意豎式熱感打印機(jī)
--按鍵: 密封膜,增強(qiáng)-16鍵
中國(guó)代理商:深圳市方源儀器有限公司
地址:深圳市南山區(qū)登良路62號(hào)南園綜合樓5樓 地址:上海市閔行區(qū)申濱路1051弄140號(hào)1101室
: 86372601 86372660 : 54888372
: fyyq@vip.163.com : fyyq@vip.163.com
相關(guān)產(chǎn)品
- CMI155金屬基體上涂鍍層測(cè)厚儀
- CMI157手持式金屬涂鍍層測(cè)厚儀
- 涂鍍層測(cè)厚儀
- 進(jìn)口MPO涂鍍層測(cè)厚儀
- MPO涂鍍層測(cè)厚儀
- 涂鍍層測(cè)厚儀優(yōu)勢(shì)
- L200薄膜測(cè)厚儀
- CMI830電解測(cè)厚儀
- CMI900 X射線熒光測(cè)厚儀
- CMI760 PCB銅厚測(cè)試儀
- CMI730 臺(tái)式涂鍍層測(cè)厚儀
- CMI511 便攜式孔銅測(cè)厚儀
- CMI250 便攜式涂鍍層測(cè)厚儀
- CM95 便攜式銅箔測(cè)厚儀
- 涂層測(cè)厚儀
- 涂鍍層測(cè)厚儀
- 膜厚儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- L170涂鍍層測(cè)厚儀
- 漆膜測(cè)厚儀L180
- 美國(guó)LEE測(cè)厚儀
- L200兩用型測(cè)厚儀
- L200薄膜測(cè)厚儀
- CMI810電解測(cè)厚儀
- CMI820電解測(cè)厚儀
- CMI808電解測(cè)厚儀
- 鍍層測(cè)厚儀
- 鍍層測(cè)厚儀
- 鍍層測(cè)厚儀
- CMI243 便攜式金屬鍍層測(cè)厚儀
- 涂層測(cè)厚儀
- 涂層測(cè)厚儀
- 涂層測(cè)厚儀
- CMI涂層測(cè)厚儀
- CMI涂層測(cè)厚儀
- CMI涂層測(cè)厚儀
- CMI153 便攜式涂鍍層測(cè)厚儀
- CMI測(cè)厚儀
- CMI233 便攜式涂層測(cè)厚儀
- 英國(guó)牛津兩用涂層測(cè)厚儀CMI153
- CMI153牛津涂層測(cè)厚儀
- 涂鍍層測(cè)厚儀
- L200薄膜測(cè)厚儀