牛津儀器孔內(nèi)鍍銅測厚儀膜厚儀
牛津儀器孔內(nèi)鍍銅測厚儀膜厚儀用于侵蝕工序前、后,測量孔內(nèi)鍍層厚度。*的設計使CMI511能夠*勝任對雙層或多層電路板的測量,甚至可以穿透錫和錫/鉛抗蝕層進行測量,由深圳市方源儀器有限公司總代理!
牛津儀器產(chǎn)品質(zhì)量保證:
牛津儀器測厚儀器部(OICM)作為牛津儀器分析儀器部的一個組成部分,提供范圍內(nèi)的支持和服務網(wǎng)絡。和我們的所有產(chǎn)品一樣,CM511在售前和售后都能夠得到我們優(yōu)質(zhì)服務的保證。
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規(guī)格:
測量技術(shù):電渦流
zui小孔徑:35 mils (899um)
可測厚度范圍:0.08一4.0 mils (2-102um)
鍵區(qū):10個數(shù)字鍵,16個功能鍵
顯示:1/2" (12.7 mm)高亮液晶顯示屏
數(shù)據(jù)讀取:以千分之一寸(英制)或微米
(公制)直接讀取
單位轉(zhuǎn)換:一鍵即可自動轉(zhuǎn)換
分辨率:0.01 mils (.25um)
精確度:1 .01 mil (.25um)<1 mil
(25um) 1 5% >1 mil (25um)
存儲量:2000條讀數(shù)
校準:連續(xù)自我校準
統(tǒng)計數(shù)據(jù)顯示:讀數(shù)條數(shù)、標準差、平均值、
CPK、高/低值
電池:9伏特干電池或可充電電池(含充電器)
9伏干電池持續(xù)50小時;9伏充電電池持續(xù)l0小時
重量:9 ocs. (255 g)(包括電池)
尺寸:(長)3 1/8}} (79 mm)二(寬)1 3/16"
(30 mm)二(高)5 7/8}} (149 mm)
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