深圳方源儀器總代理CMI243測(cè)厚儀膜厚儀

深圳方源儀器總代理CMI243測(cè)厚儀膜厚儀免去了對(duì)多探頭、操作培訓(xùn)和持續(xù)保養(yǎng)的需要。牛津儀器總代理深圳市方源儀器有限公司提供可靠的高品質(zhì)產(chǎn)品，手持式類型易于用戶控制，并且可以同X射線熒光測(cè)厚儀的準(zhǔn)確性和精密性媲美。為了讓客戶能以低成本購(gòu)買(mǎi)。

產(chǎn)品儀器探頭:

的ECP-M探頭專為較難測(cè)量的金屬覆層設(shè)計(jì)，此單探頭可以測(cè)量鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬覆層，例如鋅、鎳、銅、鉻和鎬。更小的探針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測(cè)量。

測(cè)量注意事項(xiàng)：

⒈在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。

⒌測(cè)量前要注意周?chē)渌碾娖髟O(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。

⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。

⒏在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

產(chǎn)品規(guī)格：

品牌：英國(guó)牛津儀器Oxford

產(chǎn)品型號(hào)：CMI243

檢測(cè)范圍：鋅/鐵、鎳/鐵、鉻/鐵、鎘/鐵、銅/鐵等（Zn/Fe,Ni/Fe,Cr/Fe,Cd/Fe,Cu/Fe,etc），包括緊固件、螺絲、汽車(chē)部件、齒輪、管件等表面電鍍層。

測(cè)量鍍層范圍(周)：

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