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中國科學技術大學大氣環(huán)境高光譜遙感成果榮獲第二十四屆中國專利優(yōu)秀獎
導讀：高光譜衛(wèi)星遙感是全面掌握污染/溫室氣體時空變化特征、支撐我國“減污降碳”戰(zhàn)略必不可少的觀測技術。
近日，國家知識產(chǎn)權(quán)局發(fā)布了關于第二十四屆中國專利獎授獎的決定。中國科學技術大學作為第一專利權(quán)人，工程科學學院劉誠教授團隊的國家發(fā)明專利《基于高分五號衛(wèi)星紫外可見高光譜的大氣污染成分反演方法》(專利號：ZL202010737590.1，發(fā)明人：劉誠，張成歆，蘇文靜，夏叢紫，趙飛)榮獲第二十四屆中國專利優(yōu)秀獎(圖1)。
圖1.獲獎證書
高光譜衛(wèi)星遙感是全面掌握污染/溫室氣體時空變化特征、支撐我國“減污降碳”戰(zhàn)略必不可少的觀測技術。然而，我國的大氣環(huán)境高光譜遙感長期依賴歐美國家的衛(wèi)星載荷，嚴重制約了在大氣污染跨境傳輸和全球排放責任評估的國際話語權(quán)。發(fā)明人瞄準大氣環(huán)境高光譜衛(wèi)星遙感的國際前沿和“自主可控”的國家需求，針對我國首個用于污染氣體監(jiān)測的紫外-可見高光譜載荷—高分五號衛(wèi)星大氣痕量氣體差分吸收光譜儀(EMI)，研發(fā)了自主可控的國產(chǎn)高光譜衛(wèi)星大氣污染成分遙感技術，形成了本專利，打破了多年來高度依賴國外高光譜衛(wèi)星載荷的局面(圖2)。
圖2.國產(chǎn)高光譜衛(wèi)星大氣污染成分遙感算法
中國專利獎設立于1989年，由國家知識產(chǎn)權(quán)局與世界知識產(chǎn)權(quán)組織共同頒發(fā)，是我國唯一的專門對授予專利權(quán)的發(fā)明創(chuàng)造給予獎勵的政府部門獎，是中國最高級別的專利獎項和知識產(chǎn)權(quán)領域最高榮譽。我校一直以來高度重視專利的轉(zhuǎn)移、轉(zhuǎn)化以及專利保護工作，積極推動和開展知識產(chǎn)權(quán)的轉(zhuǎn)化運用，該獎的獲得也充分體現(xiàn)了我校在產(chǎn)學研合作和科技成果轉(zhuǎn)化方面取得的成效。(工程科學學院)
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