EPK Mikro Test G6涂鍍層測厚儀測試結(jié)果受哪些因素影響

Mikro Test G6涂鍍層測厚儀測試結(jié)果受哪些因素影響

德國EPK Mikro Test G涂鍍層測厚儀是一款機械式涂鍍層測厚儀，指針刻度盤，量程0-100um，精度±1um或5%讀值，自動操作，自上市七十多年以來，由于工藝技術(shù)及精度等方面，具有磁性覆層測厚儀的，使得G6非常。不過大部分使用者對MikroTest G6在操作過程中如何規(guī)范使用儀器，并不是很清楚。本文將詳細介紹：

1.保證測厚儀遠離磁鐵或電磁鐵，遠離強磁場、強電場；

2.測厚儀節(jié)勿猛烈碰撞；

3.測厚儀用完后將指輪逆時針旋轉(zhuǎn)，停在滿刻度附近后再放入手提箱；

4.盡管 Mikrotest 測厚儀非常結(jié)實，也要象使用其它精密儀器一樣，小心加以愛護

德國EPK Mikro Test G6涂鍍層測厚儀，又稱為G6涂層測厚儀，EPK MiKro test G6膜厚儀，符合DIN EN ISO2178、DIN50982、ASTM B499、E376、D1188、G12、B530、BS5411、ISO2361標準。

德國EPK Mikro Test G6涂鍍層測厚儀測量結(jié)果受哪些因素影響：

1.鋼鐵基體的磁特性

磁性測厚儀受基體金屬導(dǎo)磁性能變化的影響。低碳鋼磁性的變化是很輕微的不必考慮，高碳鋼及熱處理后的硬鋼則會使讀值偏高。

2.基體金屬厚度

該儀器有一個基體小臨界厚度值。型號不同，則該臨界厚度不同。請參考技術(shù)說明指標表（表1）。若厚度超過這一小臨界厚度值，測量值不會受到影響；反之，則造成讀值偏高。

3.邊緣效應(yīng)

該測量方法對被測體邊界、孔眼、空腔等表面形狀陡變敏感。因此，在靠近邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。所以，技術(shù)說明指標指出了小測量面積。必須要測量這種場合時，一定要經(jīng)過校準。

4.曲率

被測量件的曲率對測量有影響，一般凸面造成測值偏大，凹面則偏小。盡管儀器在設(shè)計時對這方面有所補償。

5.覆蓋層的厚度

測厚精度隨覆層厚度變化面變化。對于薄的覆層，其測量精度是一個常數(shù)，與覆層厚度無關(guān)；對于厚度的覆層，其精度與覆層厚度近似成正比。

6.剩磁

基體金屬的剩磁對 Mikrotest 測厚儀的測量結(jié)果會有影響。

7.磁場

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場會嚴重影響儀器工作。

8.地球重力

Mikrotest 測厚儀測量讀數(shù)受測頭相對于地球重力方向影響。

德國EPK涂層測厚儀G6-技術(shù)參數(shù)：

簡測實業(yè)是德國EPK代理商，有Minitest 600系列、Minitest 2500系列、Minitest 725系列、Minitest 735系列、Minitest 745系列等。備有現(xiàn)貨，歡迎咨詢