光譜橢偏儀你知道多少呢？

2022

05-24

18:40:05

 88

來源：南京淳寅嘉生物科技有限公司

　　橢偏儀的適用樣品范圍很廣，紫外至近紅外波段透過半透過等材料都不在話下，也就是可以表征絕大部分的半導(dǎo)體和介電薄膜材料，甚至厚度在幾十納米以下的金屬薄層也是囊中之物。

　　橢偏儀可以直接測量樣品折射率和消光系數(shù)，也就是光的吸收強(qiáng)度；

　　在此基礎(chǔ)上，我們可以鑒定樣品的組分和帶隙；

　　后通過與強(qiáng)大的軟件分析相結(jié)合，樣品信息如厚度、粗糙度、均勻度、孔隙率、電導(dǎo)率等，在橢偏儀面前一覽無余。

　　SE-VM是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可實(shí)現(xiàn)科研/企業(yè)級高精度快速光譜橢偏測量，支持多角度，微光斑，可視化調(diào)平系統(tǒng)等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設(shè)計(jì)。

　　二、光譜橢偏儀產(chǎn)品特點(diǎn)

　　1.采用高性能進(jìn)口復(fù)合光源，光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (380-1000nm)，可支持?jǐn)U展紫外到近紅外范圍 (193-2500nm)

　　2. 高精度旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器調(diào)制、PCRSA配置，實(shí)現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集；

　　3. 支持系列配置靈活，可根據(jù)不同應(yīng)用場景支持多功能模塊化定制；

　　4. 數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料；

　　廣泛應(yīng)用于鍍膜工藝控制、tooling校正等測量應(yīng)用,實(shí)現(xiàn)光學(xué)薄膜、納米結(jié)構(gòu)的光學(xué)常數(shù)和幾何特征尺寸快速的表征分析。

全年征稿/資訊合作 聯(lián)系郵箱：137230772@qq.com

版權(quán)與免責(zé)聲明

1、凡本網(wǎng)注明"來源：興旺寶"的所有作品，版權(quán)均屬于興旺寶，轉(zhuǎn)載請必須注明興旺寶，http://www.dunya.com.cn/。違反者本網(wǎng)將追究相關(guān)法律責(zé)任。

2、企業(yè)發(fā)布的公司新聞、技術(shù)文章、資料下載等內(nèi)容，如涉及侵權(quán)、違規(guī)遭投訴的，一律由發(fā)布企業(yè)自行承擔(dān)責(zé)任，本網(wǎng)有權(quán)刪除內(nèi)容并追溯責(zé)任。

3、本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它來源的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)或證實(shí)其內(nèi)容的真實(shí)性，不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時，必須保留本網(wǎng)注明的作品來源，并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。

4、如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題，請?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。