使用 FACT 光譜譜圖解析軟件對(duì)復(fù)雜樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)光譜校正

理想情況下，ICP-OES儀器應(yīng)該具有無(wú)限的光譜分辨率，無(wú)論什么樣的樣品，各個(gè)元素的靈敏發(fā)射譜線(xiàn)都不受光譜干擾。對(duì)于復(fù)雜的樣品基質(zhì)來(lái)說(shuō)，這樣的情況常常不大可能，但是，安捷倫快速自動(dòng)曲線(xiàn)擬合技術(shù) (FACT) 卻將這理想變成了現(xiàn)實(shí)。它采用了一種高度復(fù)雜卻又易于使用的光譜建模技術(shù)，對(duì) ICP-OES 分析棘手樣品時(shí)經(jīng)常遇到的復(fù)雜分析光譜進(jìn)行準(zhǔn)確建模。

FACT 的優(yōu)勢(shì)在于它能夠準(zhǔn)確校正分析物波長(zhǎng)附近的強(qiáng)重疊峰。在采集分析數(shù)據(jù)之前或之后都可以創(chuàng)建 FACT 模型，過(guò)程非常簡(jiǎn)單，您可信心十足地應(yīng)對(duì)任何挑戰(zhàn)性樣使用 FACT 光譜譜圖解析軟件對(duì)復(fù)雜樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)光譜校正 Agilent 5800 和Agilent 5900 ICP-OES 2 品。有了 FACT，無(wú)需對(duì)樣品做更多的處理，無(wú)需重新分析樣品，也無(wú)需因在含有大量錯(cuò)誤數(shù)據(jù)的分析結(jié)果中尋找正確數(shù)據(jù)而感到心煩意亂，可大大節(jié)省您的寶貴時(shí)間。與元素間干擾校正 (IEC) 相比，F(xiàn)ACT 的使用更簡(jiǎn)單，功能也更強(qiáng)大。它還可準(zhǔn)確校正背景，尤其適用于處理極為復(fù)雜的背景結(jié)構(gòu)（傳統(tǒng)的背景校正技術(shù)對(duì)此往往束手無(wú)策）。

FACT 的工作原理： FACT 通過(guò)使用高級(jí)光譜建模技術(shù)提供實(shí)時(shí)光譜校正，以數(shù)學(xué)方式從原始光譜中解析（即分離）分析物信號(hào)，并通過(guò)分別測(cè)定預(yù)期組分以及各自的響應(yīng)來(lái)建模。通常需測(cè)定如下溶液： 1. 空白溶液 2. 純分析物溶液 3. 純干擾物溶液

對(duì)每個(gè)光譜組分模型進(jìn)行分析并擬合為高斯曲線(xiàn)，以獲得該譜峰的數(shù)學(xué)描述。檢驗(yàn)剩余結(jié)構(gòu)的殘差，如果殘差足夠大，將其擬合至其他高斯分布中。模型可表示為高斯峰與相對(duì)小的殘差之和。通過(guò)在波長(zhǎng)范圍內(nèi)監(jiān)測(cè) 6 根等離子體發(fā)射譜線(xiàn)，可計(jì)算出在模型創(chuàng)建與分析應(yīng)用之間可能出現(xiàn)的小的波長(zhǎng)偏移或漂移。這樣可以*保持模型的波長(zhǎng)準(zhǔn)確性。與 IEC 不同，采用 FACT 無(wú)需知道各溶液中分析物和干擾物的濃度。溶液濃度只要足夠高，就能輕松將其從背景中區(qū)分開(kāi)（通常是檢測(cè)限的 50 倍）。圖 1 的例子示出了針對(duì)主要的鎘 214.439 nm 發(fā)射譜線(xiàn)構(gòu)建的模型，該譜線(xiàn)受不太靈敏的 214.445 nm 鐵發(fā)射譜線(xiàn)的部分干擾。在分析土壤樣品時(shí)經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)這樣的情況，由于存在高濃度的鐵，所以很難準(zhǔn)確測(cè)定痕量的鎘。

總結(jié): FACT 通過(guò)使用高級(jí)光譜建模技術(shù)提供實(shí)時(shí)光譜校正，以數(shù)學(xué)方式從原始光譜中分離分析物信號(hào)。與元素間校正相比， FACT 的使用更簡(jiǎn)單，功能更強(qiáng)大，它可準(zhǔn)確校正背景，幫助您信心十足地分析光譜復(fù)雜的樣品。