OTDR使用經(jīng)驗(yàn)與技巧（二）

盲區(qū)

決定OTDR所能測(cè)到短距離和接近距離，是由于活接頭的反射引起OTDR接收機(jī)飽和所至，盲區(qū)通常發(fā)生在OTDR面板前的活接頭反射，但也可以在光纖的其它地方發(fā)生，一般OTDR盲區(qū)為100m。 

盲區(qū)分為衰減盲區(qū)和事件盲區(qū)

衰減盲區(qū)：從反射點(diǎn)開始至接收機(jī)恢復(fù)到后向散射電平約0.5dB范圍內(nèi)的這段距離,這段距離就是OTDR能再次測(cè)試衰減和損耗的點(diǎn).

式中：D的長(zhǎng)度就為衰減盲區(qū)的長(zhǎng)度

事件盲區(qū):從OTDR接收到反射點(diǎn)到開始到OTDR恢復(fù)到高反射點(diǎn)1.5DB以下這段距離,在這以后才能發(fā)現(xiàn)是否還有第二個(gè)反射點(diǎn),但還不能測(cè)試衰減.

式中：D1的長(zhǎng)度就為事件盲區(qū)的長(zhǎng)度。

影響盲區(qū)的因素:

a、入射光的脈沖寬度、

b、反射光的脈沖寬度、

c、入射光的脈沖后端形狀、

d、所用脈沖越小，盲區(qū)越大。

消除盲區(qū)的方法：

加尾纖（過渡纖），2KM以上

接頭損耗的測(cè)量

方法：將光標(biāo)定于曲線的轉(zhuǎn)折處如圖位置，然后選擇測(cè)接頭損耗功能鍵，便可測(cè)得接頭損耗。

外部因素引起的可能曲線變化

這里的外部因素指施加于光纜并傳遞至光纖的張力及側(cè)向受力，還有溫度的變化。這些都會(huì)造成曲線弓形彎曲。外部因素引起的弓形彎曲在外力作用下使曲線斜率改變。如圖所示，外力作用前曲線斜率恒定，在外力作用下可出現(xiàn)如下情況之一： 

波紋曲線圖

指曲線有與脈沖頻率相似的紋狀態(tài)曲線。其產(chǎn)生原因有可能是受測(cè)光纖工作頻率與帶寬頻率剛好相同,此情況下, 改變測(cè)試脈寬，同時(shí)應(yīng)從受測(cè)光纖的兩端進(jìn)行測(cè)量 

實(shí)際在測(cè)試中常見的異常曲線、原理和對(duì)策

現(xiàn)象：光纖未端無菲涅爾反射峰，曲線斜率、衰減正常，無法確認(rèn)光纖長(zhǎng)度

原因：光纖未端面上比較臟或光纖端面質(zhì)量差；

對(duì)策：清洗光纖未端面或重新做端面； 

現(xiàn)象：曲線成明顯弓形，衰減嚴(yán)重偏大或偏小，無菲涅爾反射峰；

原因：量程設(shè)置錯(cuò)誤（不足被測(cè)光纖長(zhǎng)度2倍以上）；

對(duì)策：增大量程 

現(xiàn)象：在曲線斜率恒定的曲線中間有一個(gè)“小山峰”（背向散射劇烈增強(qiáng)所致）

原因：

（1）光纖本身質(zhì)量原因（小裂紋）；

（2）二次反射余波在前端面產(chǎn)生反射；

對(duì)策：在這種情況下改變光纖測(cè)試量程、脈寬、重新做端面，再測(cè)試如“小山峰”消失則為原因（2），如不消失則為原因（1） 

現(xiàn)象：在光纖纖連接器、耦合器、熔接點(diǎn)處產(chǎn)生一個(gè)明顯的增益；

原因：模場(chǎng)直徑不匹配造成的；

對(duì)策：測(cè)試衰減和接頭損耗必須雙向測(cè)試，取平均值 

現(xiàn)象：曲線斜率正常，光纖均勻性合格，但兩端光纖衰減系數(shù)相差很大

原因：模場(chǎng)不均勻造成，一般為光纖拉絲引頭和結(jié)尾部分；

對(duì)策：測(cè)試衰減必須雙向測(cè)試，取平均值 

現(xiàn)象：在整根光纖衰減合格，曲線大部分斜率均勻，但在菲涅爾反射峰前沿有一小凹陷

原因：未端幾米或幾十米光纖受側(cè)壓；

對(duì)策：復(fù)繞觀察有無變化

現(xiàn)象：1310nm光纖曲線平滑，光纖衰減斜率基本不變，衰減指標(biāo)略微偏高，但1550nm光纖衰減斜率增加，衰減指標(biāo)偏高；

原因：束管內(nèi)余長(zhǎng)過短，光纖受拉伸；

對(duì)策：確認(rèn)束管內(nèi)的余長(zhǎng)，增加束管內(nèi)的余長(zhǎng)

現(xiàn)象：1310nm光纖曲線平滑，光纖衰減斜率基本正常，衰減指標(biāo)正常，但1550nm光纖衰減斜率嚴(yán)重不良，衰減指標(biāo)嚴(yán)重偏高；

原因：束管內(nèi)余長(zhǎng)過長(zhǎng)，光纖彎曲半徑過小；

對(duì)策：確認(rèn)束管內(nèi)的余長(zhǎng)，減少束管內(nèi)的余長(zhǎng) 

現(xiàn)象：尾纖與過渡纖有部分曲線出現(xiàn)有規(guī)則的曲線不良，但被測(cè)光纖后半部分曲線正常，整根被測(cè)光纖衰減指標(biāo)基本正常；

原因：一般是由設(shè)備本身和測(cè)試方法綜合造成的；

對(duì)策：關(guān)機(jī)，重新起動(dòng)，對(duì)各個(gè)光纖接觸部分進(jìn)行清潔 

正常曲線

A 為盲區(qū)， B 為測(cè)試末端反射峰。測(cè)試曲線為傾斜的，隨著距離的增長(zhǎng)，總損耗會(huì)越來越大。用總損耗（ dB ）除以總距離（ km ）就是該段纖芯的平均損耗（ dB/Km ）。

異常情況

原因：

（1）儀表的尾纖沒有插好，光脈沖根本打不出去；

（2）斷點(diǎn)位置比較進(jìn)， OTDR 不足以測(cè)試出距離來；

方法：

（1） 要檢查尾纖連接情況

（2） 把 OTDR 的設(shè)置改一下，把距離、脈沖調(diào)到小，如果還是這種情 況的話，可以判斷 1 尾纖有問題； 如果是尾纖問題，更換尾纖。

非反射事件 (臺(tái)階)

這種情況比較多見，曲線中間出現(xiàn)一個(gè)明顯的臺(tái)階，多數(shù)為該纖芯打折，彎曲過小，受到外界損傷等因素造成。

曲線遠(yuǎn)端沒有反射峰

這種情況一定要引起注意！曲線在末端沒有任何反射峰就掉下去了，如果知道纖芯原來的距離，在沒有到達(dá)纖芯原來的距離，曲線就掉下去了，這說明光纖在曲線掉下去的地方斷了，或者是光纖遠(yuǎn)端端面質(zhì)量不好。

測(cè)試距離過長(zhǎng)

這種情況是出現(xiàn)在測(cè)試長(zhǎng)距離的纖芯時(shí)， OTDR 所不能達(dá)到的距離所產(chǎn)生的情況，或者是距離、脈沖設(shè)置過小所產(chǎn)生的情況。如果出現(xiàn)這種情況， OTDR 的距離、脈沖又比較小的話，就要把距離、脈沖調(diào)大，以達(dá)到全段測(cè)試的目的，稍微加長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間也是一種辦法。 

幻峰（鬼影）的識(shí)別與處理

幻峰（鬼影）的識(shí)別曲線上鬼影處未引起明顯損耗圖（a）；沿曲線鬼影與始端的距離是強(qiáng)反射事件與始端距離的倍數(shù)，成對(duì)稱狀圖（b）

消除幻峰（鬼影）  選擇短脈沖寬度、在強(qiáng)反射前端(如OTDR輸出端)中增加衰減。若引起鬼影的事件位于光纖終結(jié)，可"打小彎"以衰減反射回始端的光。

正增益現(xiàn)象處理

正增益是由于在熔接點(diǎn)之后的光纖比熔接點(diǎn)之前的光纖產(chǎn)生更多的后向散光而形成的。事實(shí)上，光纖在這一熔接點(diǎn)上是熔接損耗的。常出現(xiàn)在不同模場(chǎng)直徑或不同后向散射系數(shù)的光纖的熔接過程中，因此，需要在兩個(gè)方向測(cè)量并對(duì)結(jié)果取平均值作為該熔接損耗。