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電磁式及高頻渦流式薄膜測(cè)厚儀/膜厚計(jì) 日本 型號(hào):WBLZ-370

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產(chǎn)品型號(hào)WBLZ-370

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廠商性質(zhì)其他

所在地北京市

更新時(shí)間:2022-03-20 15:30:01瀏覽次數(shù):26次

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本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,可無(wú)損的測(cè)量磁性金屬基體(如鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導(dǎo)電覆層的厚度(如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
電磁式及高頻渦流式薄膜測(cè)厚儀/膜厚計(jì) 日本 
型號(hào):WBLZ-370
貨號(hào):ZH6915
產(chǎn)簡(jiǎn)
 本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,可無(wú)損的測(cè)量磁性金屬基體(如鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導(dǎo)電覆層的厚度(如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
內(nèi)置打印機(jī),可打印數(shù)據(jù),有四個(gè)統(tǒng)計(jì)功能。
測(cè)定方法:電磁式及高頻渦流式 
測(cè)定對(duì)象:磁性金屬上非磁性涂鍍層及非磁性金屬上絕緣層 
測(cè)定范圍:電磁式:0~1500um或0~60.0mils 
高頻式:0~800um或0~32.0mils 
測(cè)定精度 電磁式:<15um±0.3um  >15um±2% 
高頻式:<50um±1um    >50um±2% 
分辨率:<100um 0.1um  >100um 1um 
界限設(shè)定:可設(shè)定上/下限數(shù)值 
測(cè)試單位:公/英制互換 
顯示方式:LCD數(shù)顯 
操作面板:密封防水按鍵 
附屬品:鐵基體/鋁基體/校正標(biāo)準(zhǔn)片/電池/皮套/說(shuō)明書 
電源:DV3V 主機(jī)5#堿性電池×6個(gè) 打印機(jī)5#堿性電池×4個(gè) 
體積:80(W)×80(D)×30(H) 
重量:1100g

便攜式涂層測(cè)厚儀 型號(hào):MTA-068

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法,可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合

電磁式及高頻渦流式薄膜測(cè)厚儀/膜厚計(jì) 日本 型號(hào):WBLZ-370

本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,可無(wú)損的測(cè)量磁性金屬基體(如鐵、合

電磁式及高頻渦流式薄膜測(cè)厚儀/膜厚計(jì) 日本 型號(hào):WBLZ-370

本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,可無(wú)損的測(cè)量磁性金屬基體(如鐵、合

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