LBT可調(diào)式制備器說明: KTQ-II可調(diào)式制備器適用于對膜厚的細微差別進行評估的研究。它通過調(diào)節(jié)制備器上方的兩個微分器,能上下方向調(diào)整下面的刮刀以控制間隙,即zui終涂層厚度。刮涂時以每, O 微米為單位調(diào)整刮刀的間隙。
LBT可調(diào)式制備器主要技術(shù)參數(shù):
1 有效涂膜寬度: 55mm 100mm
2 外形尺寸: 112x78x100mm(長 x 寬 x 高) 112x106x108mm(長 x 寬 x 高)
3 儀器凈重: 358g 400g
4 精磨:±2μm
圖片展示
可調(diào)式制備器說明: KTQ-II可調(diào)式制備器適用于對膜厚的細微差別進行評估的研究。它通過調(diào)節(jié)制備器上方的兩個微分器,能上下方向調(diào)整下面的刮刀以控制間隙,即zui終涂層厚度。刮涂時以每, O 微米為單位調(diào)整刮刀的間隙。
可調(diào)式制備器說明: KTQ-II可調(diào)式制備器適用于對膜厚的細微差別進行評估的研究。它通過調(diào)節(jié)制備器上方的兩個微分器,能上下方向調(diào)整下面的刮刀以控制間隙,即zui終涂層厚度。刮涂時以每, O 微米為單位調(diào)整刮刀的間隙。
可調(diào)式制備器說明: KTQ-II可調(diào)式制備器適用于對膜厚的細微差別進行評估的研究。它通過調(diào)節(jié)制備器上方的兩個微分器,能上下方向調(diào)整下面的刮刀以控制間隙,即zui終涂層厚度。刮涂時以每, O 微米為單位調(diào)整刮刀的間隙。
可調(diào)式制備器說明: KTQ-II可調(diào)式制備器適用于對膜厚的細微差別進行評估的研究。它通過調(diào)節(jié)制備器上方的兩個微分器,能上下方向調(diào)整下面的刮刀以控制間隙,即zui終涂層厚度。刮涂時以每, O 微米為單位調(diào)整刮刀的間隙。
可調(diào)式制備器說明: KTQ-II可調(diào)式制備器適用于對膜厚的細微差別進行評估的研究。它通過調(diào)節(jié)制備器上方的兩個微分器,能上下方向調(diào)整下面的刮刀以控制間隙,即zui終涂層厚度。刮涂時以每, O 微米為單位調(diào)整刮刀的間隙。
可調(diào)式制備器說明: KTQ-II可調(diào)式制備器適用于對膜厚的細微差別進行評估的研究。它通過調(diào)節(jié)制備器上方的兩個微分器,能上下方向調(diào)整下面的刮刀以控制間隙,即zui終涂層厚度。刮涂時以每, O 微米為單位調(diào)整刮刀的間隙。