X射線光譜測(cè)厚儀*天瑞集團(tuán)多年研發(fā)的一款電鍍工業(yè)儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。X射線光譜儀的鍍層Thick800A是天...

X射線光譜測(cè)厚儀*天瑞集團(tuán)多年研發(fā)的一款電鍍工業(yè)儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。X射線光譜儀的鍍層Thick800A是天...

光譜測(cè)厚儀本儀器專門針對(duì)鍍銀層膜厚測(cè)試儀厚度測(cè)量、鍍層元素的的種類及含量的快速無(wú)損分析而設(shè)計(jì)，具如下特點(diǎn)：采用大面積（25mm^2）Si-pin半導(dǎo)體探測(cè)器，即...

光譜測(cè)厚儀本儀器專門針對(duì)鍍銀層膜厚測(cè)試儀厚度測(cè)量、鍍層元素的的種類及含量的快速無(wú)損分析而設(shè)計(jì)，具如下特點(diǎn)：采用大面積（25mm^2）Si-pin半導(dǎo)體探測(cè)器，即...

標(biāo)準(zhǔn)配置 開(kāi)放式樣品腔。X射線光譜測(cè)厚儀精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。Si-Pin探測(cè)器。信號(hào)檢測(cè)電...

標(biāo)準(zhǔn)配置 開(kāi)放式樣品腔。X射線光譜測(cè)厚儀精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。Si-Pin探測(cè)器。信號(hào)檢測(cè)電...

電鍍x射線測(cè)厚儀具有快速、準(zhǔn)確、簡(jiǎn)便、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn)，廣泛用于鍍層厚度的測(cè)量、電鍍液濃度的測(cè)量。儀器介紹 X熒光測(cè)厚儀Thick800A是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X...

電鍍x射線測(cè)厚儀具有快速、準(zhǔn)確、簡(jiǎn)便、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn)，廣泛用于鍍層厚度的測(cè)量、電鍍液濃度的測(cè)量。儀器介紹 X熒光測(cè)厚儀Thick800A是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X...

型號(hào)：THICK600X熒光電鍍層測(cè)厚儀廠家分析范圍： Ti-U，可分析zui高3層15個(gè)元素X熒光電鍍層測(cè)厚儀分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有...

型號(hào)：THICK600X熒光電鍍層測(cè)厚儀廠家分析范圍： Ti-U，可分析zui高3層15個(gè)元素X熒光電鍍層測(cè)厚儀分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有...

光譜鍍銀測(cè)厚儀1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08Co...

光譜鍍銀測(cè)厚儀1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08Co...

熒光X射線光譜測(cè)厚儀在使用中，不僅工作效率快，測(cè)量方便，另外測(cè)量數(shù)據(jù)同時(shí)也非常精準(zhǔn)，這一點(diǎn)離不開(kāi)設(shè)備所采用的X射線熒光檢測(cè)技術(shù)，利用X射線穿透被測(cè)物，通過(guò)射線穿...

熒光X射線光譜測(cè)厚儀在使用中，不僅工作效率快，測(cè)量方便，另外測(cè)量數(shù)據(jù)同時(shí)也非常精準(zhǔn)，這一點(diǎn)離不開(kāi)設(shè)備所采用的X射線熒光檢測(cè)技術(shù)，利用X射線穿透被測(cè)物，通過(guò)射線穿...