ZT低溫測(cè)試倉(cāng)適用范圍:
國(guó)防工業(yè),航天工業(yè)自動(dòng)化零組件,汽車部件,電子、電器零組件,塑料、化工業(yè),食品
業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐寒、耐干性能及研發(fā),質(zhì)量管理工程之試驗(yàn)規(guī)范。
ZT低溫測(cè)試倉(cāng)滿足標(biāo)準(zhǔn):GB/T2423.1~2《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)。A:
低溫試驗(yàn)方法》.
執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn):
1.GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
2.GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3;
3.GB2423.1低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A
4.GB/T2423.34-2005低、溫度循環(huán)試驗(yàn)。
規(guī)格型號(hào)及技術(shù)參數(shù):
ZT-CTH-80B, ZT-CTH-120B
ZT-CTH-150B, ZT-CTH-225B
ZT-CTH-306B, ZT-CTH-408B
ZT-CTH-800B, ZT-CTH-1000B
1.溫度范圍 :常溫RT~0℃/-20℃/-40℃/-50℃/-60℃/-70℃/-86℃。
2.控制穩(wěn)定度 :±0.5℃
3.分布均勻度 :±1.0℃
4.溫度偏差: ≤±2℃
5.正常降溫時(shí)間: +20~0℃小于20分鐘
+20~-20℃小于45分鐘
+20~-40℃小于60分鐘
+20~-50℃小于70分鐘
+20~-60℃小于75分鐘
+20~-70℃小于80分鐘
+20~-86℃小于100分鐘
工作內(nèi)尺寸:
ZT-CTH-50B W寬35XH高40XD深35cm
ZT-CTH-80B W寬40XH高50XD深40cm
ZT-CTH-120B W寬50XH高60XD深40cm
ZT-CTH-150B W寬50XH高60XD深50cm
ZT-CTH-225B W寬60XH高75XD深50cm
ZT-CTH-306B W寬60XH高85XD深60cm
ZT-CTH-408B W寬60XH高85XD深80cm
ZT-CTH-800B W寬100XH高100XD深80cm
ZT-CTH-1000B W寬100XH高100XD深100cm
控制器:
采用加拿大“RUERSI”*微電腦液晶顯示薄膜按鍵型,英文表示溫度可程控器,具
10組程序100段次記憶,每段 99Hour59Min,每段可循環(huán)999次,可任意分割設(shè)定,并附多
組PID控制功能。