Chroma 3813 觸碰面板多點(diǎn)半自動(dòng)測(cè)試機(jī)是一款新型的觸控面板線性測(cè)試機(jī)。3813 可測(cè)試數(shù)位式電阻與數(shù)位式電容面板以及傳統(tǒng)式電阻與傳統(tǒng)式電容面板，測(cè)試機(jī)...

Chroma 3260C 三溫系統(tǒng)板測(cè)試分類(lèi)機(jī)是一臺(tái)全新搭載Chroma混合制冷機(jī)（Hybr id Chi l ler）的系統(tǒng)板三溫測(cè)試分類(lèi)機(jī)（SLT Hand...

Chroma 3280 測(cè)試分類(lèi)機(jī)為所有的SD卡類(lèi)產(chǎn)品帶來(lái)了一 個(gè)創(chuàng)新的測(cè)試方法，而這高效率的測(cè)試方法也為 客戶(hù)帶來(lái)大幅降低生產(chǎn)成本的好處。此外，小機(jī) 臺(tái)的設(shè)計(jì)...

Chroma 3240 自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)是一款新型的測(cè)試機(jī)可供多組PCB level平行測(cè)試的大量生產(chǎn)機(jī)具。3240可配合多數(shù)不同的封裝類(lèi)型包括傳統(tǒng)的QFP...

Chroma 3240-Q 無(wú)線射頻分類(lèi)機(jī)也可依據(jù)測(cè)試需求支援各種不同類(lèi)型封裝的晶片。具有自動(dòng)送料/分料盤(pán)設(shè)計(jì), 3240-Q適 用于JEDEC和EIA料盤(pán)規(guī)范...

Chroma 3180 八站邏輯測(cè)試分類(lèi)機(jī)有著高可靠性的處理機(jī)制可依據(jù)測(cè)試需求支援各種不同類(lèi)型封裝的晶片，且能與通用生產(chǎn)治具 相容，順暢的自動(dòng)化技術(shù)滿(mǎn)足高產(chǎn)能和...

Chroma 3160C 三溫四站終端測(cè)試分類(lèi)機(jī)是一臺(tái)可提供大量且多個(gè)IC測(cè)試的分類(lèi)機(jī)。該設(shè)備可提供多種封裝方試的IC測(cè)試，且支持1/2/4 sites的測(cè)試需...

Chroma 3160終端測(cè)試分類(lèi)機(jī)是一系列適合量產(chǎn)、高產(chǎn)出、多平行測(cè)試站點(diǎn)的高速I(mǎi)C測(cè)試分類(lèi)機(jī)。此系列分類(lèi)機(jī)運(yùn)用Pick & Place技術(shù)，能夠配合多種封裝...

Chroma 3112 晶片測(cè)試分類(lèi)機(jī)其高效率的模組化設(shè)計(jì)與精準(zhǔn)的機(jī)構(gòu)傳動(dòng) 結(jié)構(gòu)可確保在高速運(yùn)作下減少Jam Rate的量產(chǎn)要 求，多重檢查功能裝置可降低待測(cè)物...

Chroma 3111 桌上型單站測(cè)試分類(lèi)機(jī)具備遠(yuǎn)端功能可于任何地點(diǎn) 透過(guò)網(wǎng)路連接方式進(jìn)行控制，3111可用軟體設(shè) 定JEDEC料盤(pán)的分配以及進(jìn)行工程測(cè)試，在6...

Chroma 3110-FT 三溫測(cè)試分類(lèi)機(jī)三溫 測(cè)試分類(lèi)機(jī)同時(shí)包含預(yù)溫區(qū)，可改善測(cè)試時(shí)間及產(chǎn)出;配有2個(gè)自動(dòng)分料盤(pán)及2個(gè)手動(dòng)分料盤(pán)，在僅1.4平方米的空間發(fā)揮...

Chroma 3110 雙用單站測(cè)試分類(lèi)機(jī)3110 不 但適用于系統(tǒng)功能檢測(cè)，也同時(shí)具備終端電性測(cè) 試的能力。可綜合各元件的整體效能并執(zhí)行測(cè)試 系統(tǒng)上的所有測(cè)試...

Chroma 3270 微型IC測(cè)試分類(lèi)機(jī)是一款創(chuàng)新的微型 IC 測(cè)試分類(lèi)機(jī)，特別適合 CMOS 影像感應(yīng)組件 （CIS : CMOS Image Sensor...

Chroma 3260 自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)是一款新型的測(cè)試機(jī)可供多組PCB level平行測(cè)試的大量生產(chǎn)機(jī)具。3260可配合多數(shù)不同的封裝類(lèi)型包括傳統(tǒng)的QFP...