日置HIOKI C測(cè)試儀 3506-10模擬測(cè)量時(shí)間0.6ms（1MHz）的高速測(cè)量● 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度● 1kHz、1MHz測(cè)量下...

日置HIOKI C測(cè)試儀 3504-60 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷● 對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能● 3504...

日置HIOKI C測(cè)試儀 3504-40能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷，對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能，查出全機(jī)測(cè)量中...

日置HIOKI LCR測(cè)試儀 3511-50是一個(gè)5ms快速測(cè)量LCR，高速測(cè)量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz）,高精度： ± 0.08%...

日置HIOKI LCR測(cè)試儀IM3536 根據(jù)JIS標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電解電容器，電解電容的電容值在不同測(cè)試頻率下容值差異較大，因此需要根據(jù)實(shí)際回路的工作頻率來確認(rèn)電容值...

日置HIOKI C測(cè)試儀3504-50能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷，對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能，3504-60/...

日置HIOKI LCR測(cè)試儀IM3533 電容的測(cè)量條件下，希望120Hz時(shí)進(jìn)行C-D測(cè)量。希望100kHz時(shí)進(jìn)行ESR測(cè)量。這時(shí)，可以用1臺(tái)儀器高速的連續(xù)測(cè)量...