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掃描電子顯微鏡,是自上世紀60年代作為商用電鏡面世以來迅速發(fā)展起來的一種新型的電子光學儀器,被廣泛地應用于化學、生物、醫(yī)學、冶金、材料、半導體制造、微電路檢查等各個研究領域和工業(yè)部門。如圖1所示,是掃描電子顯微鏡的外觀圖。特點制樣簡單、放大倍數(shù)可調范圍寬、圖像的分辨率高、景深大、保真度高、有真實的三維效應等[1],對于導電材料,可直接放入樣品室進行分析,對于導電性差或絕緣的樣品則需要噴鍍導電層?;窘Y構從結構上看,如圖2所示,掃描電鏡主要由七大系統(tǒng)組成,即電子光學系統(tǒng)、信號探測處理和顯示系統(tǒng)、圖
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紫外吸收光譜、熒光光譜法、紅外吸收光譜法。。。這些都是我們在實驗室里常用的儀器分析方法。今天從縮寫、分析原理、譜圖的表示方法、提供的信息角度為各位進行簡要梳理。1.紫外吸收光譜:縮寫:UV;分析原理:吸收紫外光能量,引起分子中電子能級的躍遷;譜圖的表示方法:相對吸收光能量隨吸收光波長的變化;提供的信息:吸收峰的位置、強度和形狀,提供分子中不同電子結構的信息。2.熒光光譜法:縮寫:FS;分析原理:被電磁輻射激發(fā)后,從低單線激發(fā)態(tài)回到單線基態(tài),發(fā)射熒光;譜圖的表示方法:發(fā)射的熒光能量隨光波長的變化;
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準確的測量結果是指導企業(yè)改進生產(chǎn)方向的重要指標,也是如今備受重視的一個環(huán)節(jié),所以今天就來聊聊有關測量的知識以及重要的部分——測頭的選擇。三坐標機與測頭的工作三坐標測頭是三坐標測量機數(shù)據(jù)采集的重要部件。其與工件接觸主要通過裝配在測頭上的探針來完成。測量時,測頭只起到數(shù)據(jù)采集的作用,其本身不具有數(shù)據(jù)分析和計算的功能,需要將采集的數(shù)據(jù)傳輸?shù)綔y量軟件中進行分析計算。對于不同的工件,通常使用不同直徑和長度的探針。并且對于復雜的工件可能使用多個測頭角度來完成測量。在測量過程中,往往要通過不同測頭角度、長度和
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測量Tips系列之千分尺千分尺使用的一般注意事項■選擇合適的型號使用前仔細檢查千分尺的類型、測量范圍、精度以及其他規(guī)格,選擇符合測量要求的千分尺型號?!龊銣卦O置測量前,千分尺和工件放置在室溫下足夠長的時間,使其溫度均衡?!鲎x取數(shù)值時視線角度讀取微分筒刻線時直視基準線。如果從某個角度看刻度線,由于視覺誤差將不會讀取線的正確位置?!鰷y量面注意事項測量前調整起點(零),采用無塵紙拭擦測砧和測微螺桿的測量面,確保精密測量?!鍪褂谜_的測力裝置,以便在正確的測力下進行測量?!鍪褂们Х殖吲_架時,臺架應固定夾
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公制螺紋(MM牙)牙深=0.6495*牙距P(牙角60度)內牙孔徑=公稱直徑-1.0825*PM20x2.5-6H/7g(右手)-(單頭螺紋)-(公制粗牙)(公稱直徑20mm)(牙距2.5mm)(內螺紋配合等級6H)(外螺紋配合等級7g)左-雙頭-M20x1.5(左手)-(雙頭螺紋)-(公制細牙)(公稱直徑20mm)(牙距1.5mm)美制螺紋(統(tǒng)一標準螺紋)牙深=0.6495*(25.4/每吋牙數(shù))(牙角60度)3/4-10UNC-2A(UNC粗牙)(UNF細牙)(1A2A3A外牙公差配合等級)
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21項誤差通常將坐標測量機的幾何參數(shù)誤差按其在各運動自由度方向作用分類,分為3項位置度、6項直線度、9項角擺誤差、以及3軸相互之間的3項垂直度,共21項參數(shù)誤差。21項誤差是測量機的基本幾何誤差,為了保證測量機滿足示值誤差及探測誤差的要求,生產(chǎn)廠家都要測量和控制這21項誤差,必要時進行補償。21項誤差的測量可以使用不同的測量儀器進行檢測以便于修正,包括雙頻激光干澀儀、、直角尺、高精度。但是,需要注意的是使用上述儀器測量參數(shù)誤差時,測量結果可能是幾種參數(shù)誤差的綜合結果。這21項中有:(1)X、Y、
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上的通用語言,除了“英語”,還有一個小伙伴們可能不知道的,那就是“形位公差”,它是貫穿制造業(yè)設計·生產(chǎn)·品質管理等部門的通用“語言”。“理想與現(xiàn)實的差距”——只要是我們制作的產(chǎn)品,無論用多精密的設備,無論做多大的努力,其尺寸和形狀也是無法*符合理論數(shù)值要求的。那么,做到多少才能與理論形狀、位置相近呢?我們把該相近程度用數(shù)值來表示,這就是形狀公差和位置公差,簡稱“形位公差”。設計時,須將零件的形位公差按照規(guī)定的標準符號標注在圖樣上來傳達信息。形位公差的標準化——隨著*球化的發(fā)展,生產(chǎn)領域的分工與協(xié)
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表面粗糙度的概念表面粗糙度是指加工表面具有的較小間距和微小峰谷的不平度。其兩波峰或兩波谷之間的距離(波距)很?。ㄔ?mm以下),它屬于微觀幾何形狀誤差。具體指微小峰谷Z高低程度和間距S狀況。一般按S分:S<1mm為表面粗糙度;1≤S≤10mm為波紋度;S>10mm為f形狀。VDI3400、Ra、Rmax對照表國家標準規(guī)定常用三個指標來評定表面粗糙度(單位為μm):輪廓的平均算術偏差Ra、不平度平均高度Rz和大高度Ry。在實際生產(chǎn)中多用Ra指標。輪廓的大微觀高度偏差Ry在日本等國常用Rmax符號來