ICP等離子體發(fā)射光譜儀  等離子體發(fā)射光譜儀  

型號：GR/DGS-III

DGS-III ICP等離子發(fā)射光譜儀廣泛應用于稀土分析、貴金屬分析、合金材料、電子產(chǎn)品、石油、化工、商檢、環(huán)保等部門和釹鐵硼、硅、硅鐵、鎢、鉬等領(lǐng)域需要檢測元素的定量分析及各種高純材料的雜質(zhì)成份分析，可對72種金屬元素和部分非金屬元素（如B,P,Si,Se,Te）進行分析...儀器性能達到JJG768-2005A類標準（中華人民共和國發(fā)射光譜儀計量檢定規(guī)程）,綜合性能達到同類儀器的*水平

詳細說明：

    該型號單道掃描等離子直讀光譜儀的核心部分是高分辯率Czerny Turner單色儀光學系統(tǒng)。它配有3600刻線/mm或者4320刻線/mm的全息光柵，窄的入射狹縫及出射狹縫, 具有很高的分辯率和極低的雜散光，保證了系統(tǒng)在分析復雜基體樣品時，受光譜疊加的影響減到zui小。采用直接驅(qū)動裝置傳動光柵，保證了極快的分析速度和好的重現(xiàn)性。采用40.68MHZ RF發(fā)生器以保證高的信號背景比（S/B）和很低的檢出限。采用新技術(shù)設計了優(yōu)良的檢測系統(tǒng)，保證了分析質(zhì)量的可靠。以上這些特點使DGS-Ⅲ 在等離子體發(fā)射光譜儀分析中具有非常好的檢出限和任意選擇分析元素的靈活性。從而可分析各種物資材料的樣品成分, 特別在各種高純材料及高純稀土的雜質(zhì)成分分析方面更具有優(yōu)勢。該儀器在分析指標、穩(wěn)定性、分析速度、軟件等各方面的技術(shù)指標均達到*水平。

 1 光學系統(tǒng)

1.1單色儀

   DGS-Ⅲ型光譜儀采用焦矩為1米的Czerny Turner單色儀，光柵為高光強、高分辯率、雜散光極低的全息光柵，單色儀的設計使其對溫度和壓力的變化都具有*的穩(wěn)定性，因此這種光學系統(tǒng)具有優(yōu)異的分析性能。

1.2光柵

  使用110mmX80mm大面積的3600刻線/mm的全息光柵，使單色儀的入射光為可利用的較大視角的平行光，提高了光通量，因此提高了穩(wěn)定性和信號強度。光柵在高分辯率的條件下也可采集到足夠的光，短的測量時間即可滿足需要，從而減少了所需測量的樣品量。由于雜散光極低，顯著提高了S/B，改善了檢出限。

1.3分辯率

光譜儀的分辯率決定了儀器分辯復雜譜線的能力。高分辨率減少了建立分析方法所需的時間，有較好的檢出限和較高的準確度。DGS-Ⅲ的實際分辯率為：Fe（310.030）<0.007nm。采用3600刻線/mm光柵的光譜范圍為190nm—500nm，可以適用于大部分的光譜分析元素。

1.4光柵直接驅(qū)動

   DGS-Ⅲ型光譜儀采用直接驅(qū)動光柵的機械傳動方式，計算機控制下的自動波長參比保證波長的機械準確度總是優(yōu)于0.004nm。由于*的重現(xiàn)性,掃描速度很快,全譜范圍掃描只需7秒.光柵轉(zhuǎn)動的高速度使得儀器在1分鐘內(nèi)可以分析15個元素,這意味著節(jié)省氬氣和樣品,分析速度快, 穩(wěn)定性較高。

 2. 激發(fā)光源及進樣系統(tǒng)

2.1激發(fā)光源

DGS-Ⅲ型光譜儀的激發(fā)光源為電子管震蕩電路，具有功率自動調(diào)節(jié)和相位自動匹配功能,其功率輸出從600W-1200W連續(xù)可調(diào),等離子的微小波動可以由自動調(diào)節(jié)系統(tǒng)補償. 40.68MHZ的等離子發(fā)生器符合無線電對工業(yè)頻率的要求，它安裝在單道掃描儀機箱內(nèi)部, 構(gòu)成一整體。

2.2進樣系統(tǒng)

   進樣系統(tǒng)采用目前上*的漩流霧室系統(tǒng)，他具有穩(wěn)定性好，清洗速度快等優(yōu)點。使分析速度更快，數(shù)據(jù)更準確。該儀器測量的短期穩(wěn)定性RSD<1.5%，二小時以上的*穩(wěn)定性RSD<2%。

 3．電子檢測系統(tǒng)和計算機

  DGS-Ⅲ和計算機之間的接口是一個智能微處理系統(tǒng)。它負責和計算機之間的數(shù)據(jù)通訊、采集數(shù)據(jù)、控制單色儀驅(qū)動系統(tǒng)的精確運動，及提供光電倍增管一組高精度負高壓穩(wěn)壓電源。

3.1電子檢測系統(tǒng)

l   線性動態(tài)范圍zui高可達1×10⁸,足以滿足ICP工作曲線校正的需要;

l     zui小分辯率為2.5×10^-10;

l   PMT電流測量范圍為：10^-12-10^-4安培;

l   高品質(zhì)的電子系統(tǒng)有助降低儀器的分析檢出限和提高精密度。