磁阻法測厚儀  非導磁覆蓋層厚測定儀

型號：LT/HCC-24

磁阻法測厚儀可快速無損地測量導磁材料表面上非導磁覆蓋層厚 度。例如：鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層等。由于集成電路和微處理器的應用，使本儀器具有操作簡 單、使用方便、穩(wěn)定性好、測量精度高的優(yōu)點。儀器具有數(shù)理統(tǒng)計功能，可直接顯示測量的平均值、zui大值、zui小 值、標準偏差及測量次數(shù)等統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

采用電磁感應原理進行測量，符合標準 ISO2178和標準GB4956。當探頭與覆蓋層接觸時，探頭和磁性基體構成一閉合磁回路，由于非磁性覆蓋層存在， 使磁路磁阻增加，磁阻的大小正比于覆蓋層的厚度。通過對磁阻的測量，經電腦進行分析處理，由液晶顯示器直接 顯示出測量值

技術參數(shù)

1）測量范圍： 0μm～1200μm。

2） 示值誤差： ± （1～3%H+1μm） ， H為被測涂層厚 度。

3）分 辨 率： 1μm。

4）zui小測量面的直徑： φ10 mm。

5）顯 示： 4位LCD顯示測量的平均值、zui大值、zui小值、標準偏差和測量次數(shù)，同時指示儀器的工作狀態(tài)及電池使用情況。

6） 電 源：一節(jié)6F22型9V電池。

7） 外形尺寸： 160mm×80mm×30mm。

8） 質 量：約250g。

9）使用環(huán)境：溫度0℃～40℃；相對濕度不大于90%。

可快速無損地測量導磁材料表面上非導磁覆蓋層厚 度。例如：鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層等。由于集成電路和微處理器的應用，使本儀器具有操作簡 單、使用方便、穩(wěn)定性好、測量精度高的優(yōu)點。儀器具有數(shù)理統(tǒng)計功能，可直接顯示測量的平均值、zui大值、zui小 值、標準偏差及測量次數(shù)等統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

采用電磁感應原理進行測量，符合標準 ISO2178和標準GB4956。當探頭與覆蓋層接觸時，探頭和磁性基體構成一閉合磁回路，由于非磁性覆蓋層存在， 使磁路磁阻增加，磁阻的大小正比于覆蓋層的厚度。通過對磁阻的測量，經電腦進行分析處理，由液晶顯示器直接 顯示出測量值

技術參數(shù)

1）測量范圍： 0μm～1200μm。

2） 示值誤差： ± （1～3%H+1μm） ， H為被測涂層厚 度。

3）分 辨 率： 1μm。

4）zui小測量面的直徑： φ10 mm。

5）顯 示： 4位LCD顯示測量的平均值、zui大值、zui小值、標準偏差和測量次數(shù)，同時指示儀器的工作狀態(tài)及電池使用情況。

6） 電 源：一節(jié)6F22型9V電池。

7） 外形尺寸： 160mm×80mm×30mm。

8） 質 量：約250g。

9）使用環(huán)境：溫度0℃～40℃；相對濕度不大于90%。