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北京探針測(cè)試臺(tái)

參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)SN/ST-102B

品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地北京市

更新時(shí)間:2022-05-06 15:20:02瀏覽次數(shù):24次

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北京探針測(cè)試臺(tái)(英文叫Prober station,中文又稱中測(cè)臺(tái),點(diǎn)測(cè)機(jī)。)、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測(cè)試。

探針測(cè)試臺(tái) 中測(cè)臺(tái) 點(diǎn)測(cè)機(jī)

型號(hào):SN/ST-102B

北京探針測(cè)試臺(tái)(英文叫Prober station,中文又稱中測(cè)臺(tái),點(diǎn)測(cè)機(jī)。)、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測(cè)試。

 

北京探針測(cè)試臺(tái)(英文叫Prober station,中文又稱中測(cè)臺(tái),點(diǎn)測(cè)機(jī)。)、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測(cè)試。

 

技 術(shù) 指 標(biāo) :

工作臺(tái)面

 370mm*245mm

載物臺(tái)直徑

 4"

光學(xué)參數(shù)

 總放大率:21-135倍;手輪調(diào)焦范圍:60mm;升降調(diào)焦范圍:200mm;

精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)

 粗調(diào)范圍:360°;微調(diào)范圍:±10°;zui小刻劃:1°;
 銅盤直徑:Φ85mm;絕緣盤直徑:Φ102mm

三維探針座

 探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍:±3.25mm,分辨率±2μ;
 三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定,由磁性開關(guān)控制;
 zui多可布三維探針座6個(gè);
 探針臂伸出長(zhǎng)度:60mm;
 探針長(zhǎng)度:40mm;

探針

  探針材質(zhì)硬質(zhì)合金,針尖曲率半徑2μm;


標(biāo)準(zhǔn)配置:主工作臺(tái)、CCD攝像頭、監(jiān)視器、三維微調(diào)座2個(gè)、探針臂2支、探針2支。
可選配件:三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。

可按用戶的實(shí)際需求進(jìn)行訂做。

技 術(shù) 指 標(biāo) :

工作臺(tái)面

 370mm*245mm

載物臺(tái)直徑

 4"

光學(xué)參數(shù)

 總放大率:21-135倍;手輪調(diào)焦范圍:60mm;升降調(diào)焦范圍:200mm;

精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)

 粗調(diào)范圍:360°;微調(diào)范圍:±10°;zui小刻劃:1°;
 銅盤直徑:Φ85mm;絕緣盤直徑:Φ102mm

三維探針座

 探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍:±3.25mm,分辨率±2μ;
 三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定,由磁性開關(guān)控制;
 zui多可布三維探針座6個(gè);
 探針臂伸出長(zhǎng)度:60mm;
 探針長(zhǎng)度:40mm;

探針

  探針材質(zhì)硬質(zhì)合金,針尖曲率半徑2μm;


標(biāo)準(zhǔn)配置:主工作臺(tái)、CCD攝像頭、監(jiān)視器、三維微調(diào)座2個(gè)、探針臂2支、探針2支。
可選配件:三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。

可按用戶的實(shí)際需求進(jìn)行訂做。

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