夏比沖擊試樣缺口測量方法
對于夏比沖擊V型缺口沖擊試驗，由于試樣V型缺口要求嚴格（GB/T229-2007試樣缺口深2mm±0.075、45°角±2°且試樣缺口底部半徑要求R0.25±0.025mm）（ASTM E23試樣缺口深2mm±0.025、45°角±1°且試樣缺口底部半徑要求R0.25±0.025mm）、缺口對稱面-試樣縱軸角度（標準要求90°±2°）等，故在整個試驗過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關鍵問題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗的結(jié)果是不可信的，特別是R0.25mm缺口底部半徑微小變化（其公差只有0.025mm），都會引起試驗結(jié)果的偏差，尤其是在試驗的臨界值時會引起產(chǎn)品報廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比沖擊V型缺口合格，其缺口的加工質(zhì)量檢驗是一個重要的質(zhì)量控制手段。用光學測量檢查是切實可行并能保證檢查質(zhì)量的方法。TOP-IG是我公司根據(jù)GB/229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗方法》、ASTM E23中對夏比沖擊試樣缺口的要求與廣大用戶的實際需求而設計、開發(fā)的一種于檢查夏比沖擊V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學測量儀器。
夏比沖擊試樣缺口測量方法
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