進(jìn)口優(yōu)質(zhì)hitachi日立環(huán)境型原子力顯微鏡
一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測量
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胡經(jīng)理
進(jìn)口優(yōu)質(zhì)hitachi日立環(huán)境型原子力顯微鏡
進(jìn)口優(yōu)質(zhì)hitachi日立環(huán)境型原子力顯微鏡
AFM5300E是一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測量。AFM5300E還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度對樣品表面形貌和物理特性的影響。
| 分辨率 | 原子相 |
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| 樣品尺寸 | 20 mmφ、厚度10 mm (用配件厚度擴(kuò)展至20 mm) |
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| 樣品移動范圍 | X-Y stage 5 mm |
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| 掃描范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)： 20 µm□/1.5 µmH
• 150 µm□/5 µmH
• 15 µm□/1.5 µmH（閉環(huán)差控制）
定位顯微鏡 • 簡易顯微鏡（×200倍）
• 光學(xué)顯微鏡（×1000倍）
• 變焦顯微鏡（×700倍）
• 金相顯微鏡（裝有微分干渉）（×2000倍） |
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| 檢測功能 | - AFM（接觸模式）
- DFM（輕敲模式）
- PM（相位）
- FFM（摩擦）
- MFM（磁力）
- SIS模式
- LM-FFM（橫向摩擦）
- VE-AFM/DFM（粘彈性）
- Adhesion（吸附力）
- CURRENT（電流）
- SSRM（擴(kuò)展抵抗）
- SNDM（非線性介電常數(shù)）
- PRM（壓電響應(yīng)）、KFM（表面電位）
- 液體中AFM/DFM
- EC-AFM/STM
- NanoIndentation（硬度）
- Nano-TA（微區(qū)加熱）
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