薄膜測(cè)厚儀 返回列表頁(yè)

瑞士SYLVAC薄膜測(cè)厚儀用于測(cè)量較軟或較硬材料薄膜厚度，根據(jù)測(cè)量材料可選擇不同測(cè)力范圍滿(mǎn)足不同測(cè)量任務(wù)需求。低測(cè)力可達(dá)0.06N，高分辨率0.01μm。

適用于電子行業(yè)，光伏行業(yè)，醫(yī)療行業(yè)，新能源汽車(chē)行業(yè)，鋰電池行業(yè)用于測(cè)量薄膜厚度，具有精度高，測(cè)量效率快的特點(diǎn)。

而且這款薄膜測(cè)厚儀可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸，支持?jǐn)?shù)據(jù)導(dǎo)入導(dǎo)出，很方便的將數(shù)據(jù)進(jìn)行采集及分析，可追溯性強(qiáng)，滿(mǎn)足車(chē)間現(xiàn)場(chǎng)已經(jīng)實(shí)驗(yàn)室對(duì)于薄膜的測(cè)量需求。

	分辨率：0.1μm 測(cè)力：0.3-1.3N（根據(jù)需要選擇）
	分辨率：1μm 測(cè)力：0.4-1.6N（根據(jù)需要選擇）