聚源LX9300大功率分立器件測試系統(tǒng) 返回列表頁

聚源LX9300大功率分立器件測試系統(tǒng)系統(tǒng)用途

　　本測試系統(tǒng)不僅滿足大功率VDMOS的GFS(跨導(dǎo))測試、IGBT功率參數(shù)的測試，還涵蓋中小功率半導(dǎo)體器件的測試，適用于半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠家進(jìn)行圓片中測或封裝成測，各類整機(jī)廠家、科研院所的質(zhì)量檢測部門進(jìn)行入廠檢驗(yàn)、可靠性分析測試

　　測試原理符合相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)、軍用標(biāo)準(zhǔn)。

聚源LX9300大功率分立器件測試系統(tǒng)系統(tǒng)特點(diǎn)

　　◆ PC機(jī)為系統(tǒng)的主控機(jī)

　　◆ 菜單式測試程序編輯軟件操作簡便

　　◆ 預(yù)先連接測試自動(dòng)識(shí)別NPN/PNP

　　◆ 0～±2000V程控高壓源(可擴(kuò)展到±3000V)

　　◆ 高達(dá)±500A程控高流源(可擴(kuò)展到±1000A)

　　◆ ±40V/±40A(可擴(kuò)展到±80V、±50A)的可編程電壓電流源通過測試系統(tǒng)*的硬件閉環(huán)測試方法實(shí)現(xiàn)功率VDMOS的GFS跨導(dǎo)的測試

　　◆ 測試漏流zui小分辨率達(dá)6.1pA

　　◆ 四線開爾文連接保證加載測量的準(zhǔn)確

　　◆ 通過IEEE488接口連接校準(zhǔn)數(shù)字表傳遞 計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)對系統(tǒng)進(jìn)行校驗(yàn)

　　◆ Prober接口、Handler接口可選(16Bin)

測試對象

　　二極管： BVR、IR、VF、VZ、RZ

　　三極管： BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、 ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT

　　可控硅： BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、

　　IH、IL、VGT、VON

　　場效應(yīng)管： BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)、VP

　　IGBT： BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS(off)

　　達(dá)林頓矩陣：ICEX、 IIN(ON)、 IIN(Off)、 VIN(on)、 IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO

　　單結(jié)晶體管：Iv、Vv、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2

　　光敏二、三極管：ID、IL、VOC、 ISC、BV、BVCE

　　光 耦： CTR、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR