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HemiView葉面圖像分析系統(tǒng)

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更新時間:2022-05-18 10:00:02瀏覽次數(shù):41次

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HemiView葉面圖像分析系統(tǒng)通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的,例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息,能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計算輻射指標(biāo)、冠層指標(biāo)、測量地點的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布等。

HemiView葉面圖像分析系統(tǒng)功能和組成

葉面積測量,自動辨別葉片損傷或病變面積,種子和根尖記數(shù),圖形轉(zhuǎn)換、儲存和編輯。

使用照相分析,樣品圖像通過CCD 攝像機成像,然后由圖像截獲卡送到計算機中,圖像分析軟件對樣品圖像進(jìn)行分析處理。


組成:
圖像截獲卡:PCI 接口,用來俘獲影像數(shù)據(jù)供計算機處理;
CCD 攝像機:對樣品進(jìn)行攝影成像;
圖像分析軟件:對樣品的圖像進(jìn)行分析處理,P133 以上,英文WIN3.1、WIN95,98 系統(tǒng);

HemiView植物圖像分析系統(tǒng)特點:

·交互式圖示定位工具:精準(zhǔn)記錄的圖像半球縱坐標(biāo)系統(tǒng)。補償磁場偏差;

·支持圖像分類:強度區(qū)分界限和干擾像素。圖像按照實時更新分類;

·圖像可多重和拆分查看:分類和色彩/灰色等比率查看,或?qū)⒄鶊D像拆分開瀏覽;

·圖像底片:圖像可轉(zhuǎn)換為底片模式進(jìn)行查看和分析;

·可給不同的天空區(qū)域定義號碼:天頂角和方位角定義范圍;

·單個樹的葉面積:直接可通過HemiView輸出單個樹的LAI;

·分析局部圖像:可以將圖像中不需要參與分析的部分排除;

·地點,鏡頭和太陽模型的參數(shù):用戶可設(shè)定地點,鏡頭和太陽模式應(yīng)用到任何一個圖像中,方便從列表中選擇;

·定義鏡頭的特點:鏡頭方程是當(dāng)用戶使用了當(dāng)前鏡頭和老款類型提供的ΔT;

·輸出:分析結(jié)果可輸出為Excel兼容表格格式或文本格式;

·自定義輸出參數(shù):用戶可根據(jù)不同的圖像定義不同的輸出參數(shù)。

 

 

HemiView葉面圖像分析系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo)

1、可測量物體的大尺寸:平板掃描:400×370 mm;傳送掃描:250×290 mm;
2、彩色CCD 攝像頭,681×582 pixels;
3、測量面積精度:≤4%;
4、圖象采集卡取樣頻率:實時取樣,1/ 25 秒(50Hz);
5、圖象分析軟件分辨率:512×512 pixels,24 bit;
6、傳送裝置速率:60/100/140/190 mm/s;
7、傳送裝置樣品大寬度為250mm,大厚度為5mm;
8、帶有使卷曲葉片平展的聚丙烯片;
9、攝像機鏡頭支架高度:1150 mm;

HemiView葉面圖像分析系統(tǒng)

HemiView葉面圖像分析系統(tǒng)通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有

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