全自動(dòng)/異頻/變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀達(dá)到抗*力強(qiáng)、測(cè)試速度快、精度高、全自動(dòng)數(shù)字化、操作簡(jiǎn)便；

變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x測(cè)試通過測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，

抗干擾介質(zhì)損耗儀、變頻介損測(cè)試儀介質(zhì)損耗（tgδ）： １％±０.０7％（加載電流２０μＡ～５00ｍＡ）正接介質(zhì)損耗（tgδ）： ２％±０.０...

GD-2560-介質(zhì)損耗測(cè)試儀具有多種測(cè)量方式，可選擇正/反接線、內(nèi)/外標(biāo)準(zhǔn)電容器、CVT測(cè)量（外接升壓器）和內(nèi)/外試驗(yàn)電壓進(jìn)行測(cè)量。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高壓穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與標(biāo)準(zhǔn)電阻網(wǎng)絡(luò)組成，由計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)采集標(biāo)準(zhǔn)回路電流與測(cè)試回路的電流幅值及其相位差，并算出被測(cè)試品電容容值（CX）和...

抗干擾變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀內(nèi)置介損測(cè)試電橋，可變頻調(diào)壓電源，升壓變壓器和SF6 高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器。測(cè)試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生，經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測(cè)試...

高壓抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀配備了大屏幕（105mm×65mm）中文菜單界面，屏顯分為左右兩部分，左邊為功能菜單區(qū)，右邊為相關(guān)狀態(tài)信息提示，每一步都非常清...

變頻.抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀利用單片機(jī)和電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運(yùn)算，達(dá)到抗*力強(qiáng)、測(cè)試速度快、精度高、操作簡(jiǎn)便的功能。