供應集成電路芯片測試箱溫度快速變化試驗箱 返回列表頁

一、供應集成電路芯片測試箱溫度快速變化試驗箱用途:
快速溫變試驗箱可以準確地模擬低溫、高溫、高溫高濕、低溫低濕復雜的自然狀環(huán)境，適用于塑膠、電子、食品、服裝、車輛、金屬、化學、建材等多種行業(yè)的產(chǎn)品可靠性檢測。

二、 供應集成電路芯片測試箱溫度快速變化試驗箱特點
     造型設計完美：圓弧造型及表面噴涂處理，高質(zhì)感外觀，并采用平面無反作用把手，操作容易，安全可靠。
    大型觀察窗視野寬廣明亮：采用三層真空鍍膜視窗和飛利浦節(jié)能熒光燈，無須雨刷除霧，保持清晰的觀測效果，  可隨時觀察試品的狀況。
   水電分離確保安全：加濕系統(tǒng)管路與 電源、控制器、電路板分離，可避免因管路漏水而影響電路，提高安全性。
  冷凍及控制系統(tǒng)*可靠：*歐美全封閉壓縮機，進口環(huán)保冷媒，*LCD觸摸屏控制器，界面友好，操作簡單易學。