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OXFORD-243E涂鍍層測(cè)厚儀 功能與特點(diǎn)
測(cè)量技術(shù):
一般的測(cè)試方法,例如一般測(cè)厚儀制造商所采用的普通磁感應(yīng)和渦流方式,由于探頭的" 升離效應(yīng)" 導(dǎo)致的底材效應(yīng),和由于測(cè)試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾,都無(wú)法達(dá)到對(duì)金屬性鍍層厚度的精確測(cè)量。
牛津儀器將的基于相位的電渦流技術(shù)應(yīng)用到OXFORD-243E,使其達(dá)到了±3%以內(nèi)(對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片)的準(zhǔn)確度和0.3% 以內(nèi)的精確度。
牛津儀器對(duì)電渦流技術(shù)的*應(yīng)用,將底材效應(yīng)***小化,使得測(cè)量精準(zhǔn)且不受零件的幾何形狀影響。
另外,儀器一般不需要在鐵質(zhì)底材上進(jìn)行校準(zhǔn)
OXFORD-243E涂鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
技術(shù)參數(shù)及功能:
準(zhǔn)確度:相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)片±3%
精確度:0.3%
分辨率:0.1μm
電渦流:遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499,及ASTM E376
存儲(chǔ)量:26,500 條存儲(chǔ)讀數(shù)
尺寸:14.9 x 7.94 x 3.02 cm
重量:0.26 kg 包括電池
單位:英制和公制的自動(dòng)轉(zhuǎn)換
接口:RS-232串行接口,波特率可調(diào),用于下載至打印機(jī)或計(jì)算機(jī)
顯示屏:三位數(shù)LCD液晶顯示
電池:9伏堿性電池,65小時(shí)連續(xù)使用
*的ECP-M探頭
ECP-M探頭專為較難測(cè)量的金屬覆層設(shè)計(jì),此單探頭可以測(cè)量
鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬覆層,例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探
針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測(cè)量。
測(cè)量范圍:
鐵上鍍層 鍍層厚度范圍 探頭
Zn 0–38μm ECP-M
Cd 0–38μm ECP-M
Cr 0–38μm ECP-M
Cu 0–10μm ECP-M
ECP-M探頭規(guī)格(mm)
***小凸面半徑 1.143
***小凹面半徑 1.524
測(cè)量高度 101.6
***小測(cè)量直徑 2.286
底材***小 304.8
OXFORD-243E涂層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置
OXFORD-243E
標(biāo)準(zhǔn)配置
OXFORD-243E涂層測(cè)厚儀主機(jī);
ECP-M探頭及拆除指南;
Rs232串行電纜;
校準(zhǔn)用鐵上鍍鋅標(biāo)準(zhǔn)片組。
OXFORD-243E涂層測(cè)厚儀可選配
OXFORD-243E
優(yōu)勢(shì):
1、采用基于相位的電渦流技術(shù),集測(cè)量精確、價(jià)格合理、質(zhì)量可靠的優(yōu)勢(shì)于一體的手持式測(cè)厚儀。
2、專為金屬表面處理者設(shè)計(jì)。配置的單探頭可測(cè)量,鐵質(zhì)底上所有金屬鍍層-即使在極小的、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上都可以進(jìn)行測(cè)量。
3、易于用戶控制,并且可以同X線熒光測(cè)儀的準(zhǔn)確性和精密性媲美。
4、為了讓客戶能以低成本購(gòu)買OXFORD-243E免去了對(duì)多探頭、操作培訓(xùn)和持續(xù)保養(yǎng)的需要。
可選配
可單獨(dú)選配SMTP-1(磁感應(yīng)探頭)。
OXFORD-243E涂層測(cè)厚儀其它說(shuō)明-細(xì)節(jié)圖展示-牛津涂層標(biāo)準(zhǔn)樣樣塊-探頭
牛津儀器公司提供可靠的高一般的測(cè)試方法,例如一般測(cè)厚儀制造商所采用的普通磁感應(yīng)和渦流方式,由于探頭的" 升離效應(yīng)" 導(dǎo)致的底材效應(yīng),和由于測(cè)試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾,都無(wú)法達(dá)到對(duì)金屬性鍍層厚度的精確測(cè)量。
牛津儀器將的基于相位的電渦流技術(shù)應(yīng)用到OXFORD-243E,使其達(dá)到了±3%以內(nèi)(對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片)的準(zhǔn)確度和0.3% 以內(nèi)的精確度。牛津儀器對(duì)電渦流技術(shù)的*應(yīng)用,將底材效應(yīng)***小化,使得測(cè)量精準(zhǔn)且不受零件的幾何形狀影響。另外,儀器一般不需要在鐵質(zhì)底材上進(jìn)行校準(zhǔn)。
ECP-M探頭專為較難測(cè)量的金屬覆層設(shè)計(jì),此單探頭可以測(cè)量鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬覆層,例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測(cè)量。
涂層測(cè)厚儀· 產(chǎn)品list
涂層測(cè)厚儀· 探頭參數(shù)表
探頭 | F400 | F1 | F1/90 | F10 | N1 | CN02 | |
工作原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | |||||
測(cè)量范圍(um) | 0-400 | 0-1250 | 0-10000 | 0-1250(銅上鍍鉻0-40um) | 10-200 | ||
低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | 10 | 0.1 | 1 | ||
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[3%H+1] | ±[3%H+10] | ±[3%H+1.5] | ±[3%H+1] | ||
兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[(1~3)%H+0.7] | ±[(1~3)%H+1] | ±[(1~3)%H+10] | ±[(1~3)%H+1.5] | - | ||
測(cè)量條件 | ***小曲率半徑(mm) | 凸 1 | 凸1.5 | 平直 | 10 | 3 | 平直 |
基體***小面積的直徑(mm) | ф3 | ф7 | ф7 | ф40 | ф5 | ф7 | |
***小臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | 無(wú)限制 |
涂層測(cè)厚儀· 探頭選擇參考表
基體與覆蓋層 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層 (如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等) | 非磁性的有色金屬覆蓋層 (如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等) | |||
覆蓋層厚度 不超過(guò)100µm | 覆蓋層厚度 超過(guò)100µm | 覆蓋層厚度 不超過(guò)100µm | 覆蓋層厚度 超過(guò)100µm | ||
磁性金屬 如 鐵、鋼 等 | 被測(cè)面積的直徑 大于30mm | F400 型測(cè)頭 0~400µm F1 型測(cè)頭 0~1250µm | F1 型測(cè)頭 0~1250µm F10 型測(cè)頭 0~10mm | F400 型測(cè)頭 0~400µm F1 型測(cè)頭 0~1250µm | F1 型測(cè)頭 0~1250µm F10 型測(cè)頭 0~10mm |
被測(cè)面積的直徑 小于30mm | F400 型測(cè)頭 0~400µm | F400 型測(cè)頭 0~400µm F1 型測(cè)頭 0~1250µm | F400 型測(cè)頭 0~400µm | F400 型測(cè)頭 0~400µm F1 型測(cè)頭 0~1250µm | |
有色金屬 如銅 、鋁 、黃銅 、鋅 、錫 等 | 被測(cè)面積的直徑 大于5mm | N1 型測(cè)頭 0~1250µm | 僅用于銅上鍍鉻N1 型測(cè)頭 0~40µm | ||
非金屬基體 塑料、印刷線路 | 被測(cè)面積的直徑 大于7mm | - | - | CN02 型測(cè)頭10~200µm |
F型(磁感應(yīng)):
測(cè)量鋼、鐵等鐵磁性金屬基體上的非磁性涂鍍層的厚度,如:油漆、粉末、各種防腐涂層、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、錫、鎘等;
N型(電渦流):
測(cè)量銅、鋁、不銹鋼等非鐵磁性基體上的所有非導(dǎo)電層的厚度,如:油漆、粉末、各種防腐涂層、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、氧化層等;
F/NF型:
它是以上F型和N型的組合。
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