IM3570日本日置HIOKI阻抗分析儀
● 1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查
● LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
● 基本精度±0.08%的高精度測量
● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
● 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
● 可以用于無線充電評價系統(tǒng)TS2400
IM3570日本日置HIOKI阻抗分析儀
基本參數(shù)
| 測量模式 | LCR（LCR測量），分析儀（掃描測量），連續(xù)測量 |
|---|---|
| 測量參數(shù) | Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q |
| 測量量程 | 100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數(shù)由Z確定） |
| 顯示范圍 | Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示值 θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999） Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%） |
| 基本精度 | Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° |
| 測量頻率 | 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進） |
| 測量信號電平 | V模式，CV模式（普通模式） 50mV~1Vrms，1mVrms步進（1MHz以下） 10mV~1Vrms，1mVrms步進（1.0001MHz以上） CC模式（普通模式） 10μA~50mA rms，10μA rms步進（1MHz以下） 10μA~10mA rms，10μA rms步進（1.0001MHz以上） |
| 輸出阻抗 | 普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω |
| 顯示 | 彩色TFT5.7英寸，可設置顯示ON/OFF |
| 測量時間 | 0.5ms（100kHz，F(xiàn)AST，顯示OFF，代表值） |
| 測量速度 | FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
| 其他功能 | DC偏壓測量，比較功能，面板讀取和保存，存儲功能 |
| 接口 | EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通訊，U盤，LAN |
| 電源 | AC90~264V，50/60Hz，大150VA |
| 打印 | 拷貝測量值或屏幕顯示的要點（需用9442，9593-01和9446） |
| 接口 | GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標準) |
| 電源 | AC90~264V，50/60Hz，大150VA |
| 體積和重量 | 330W×119H×307Dmm，5.8kg |
| 附件 | 電源線×1，使用說明書×1，通訊手冊×1 |
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