SM7420日本日置HIOKI高阻計
● 實現(xiàn)了是以往機型300倍的抗干擾性能
● 快6.4ms的高速測量
● 通道獨立低電容接觸檢查
● 大顯示2×10^19 Ω，小分辨率0.1 fA
● 標配EXT I/O、RS-232C、GP-IB、USB
● 適合于安裝在自動設(shè)備中，構(gòu)建簡單的MLCC泄漏電流檢查線
不標配測試用探頭。請根據(jù)測試目的另外購買選件中的探頭。
20PΩ測量SM7120中4CH機型登場
保留SM7120的抗干擾和測量功能，專門測量微小電流的4CH機型全新登場。 這是適用于組裝至自動設(shè)備中的高速機型，比如MLCC檢查的批量生產(chǎn)檢查等。
搭載接觸檢查功能的皮安表
標配了接觸檢查功能。
通過和外部電源組合使用的微小電流測量功能，可以實現(xiàn)接觸檢查，因此組裝時可以放心使用。無需過多的嘗試，提高整體的工時。 4通道單獨檢查，可以設(shè)置頻率和延遲時間，因此能夠做符合產(chǎn)線設(shè)計的細微調(diào)整。
SM7420日本日置HIOKI高阻計
基本參數(shù)（精度保證時間1年，調(diào)整后精度保證時間1年）
| 測量通道數(shù) | 4ch |
|---|---|
| 直流電流測量(精度) | 20 pA量程 (分辨率 0.1 fA), 精度 ±(2.0% of rdg. +30 dgt.) 200 pA量程 (分辨率1.0 fA), 精度±(1.0% of rdg. +30 dgt.) 2 nA量程 (分辨率10 fA), 精度±(0.5% of rdg. +20 dgt.) 20 nA量程 (分辨率100 fA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 200 nA量程 (分辨率1 pA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 2 μA量程 (分辨率10 pA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 20 μA量程 (分辨率100 pA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 200 μA量程 (分辨率1 nA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) ※2 mA量程 (分辨率10 nA), 精度±(0.5% of rdg. +30 dgt.) (1) 測量速度設(shè)置 SLOW2=內(nèi)部累積時間設(shè)為13PLC時 (2) 溫度范圍 23 ±5℃ 濕度 85% rh以下 (3) 2 mA量程時只能在測量速度為FAST時選擇 |
| 電阻顯示范圍 | 50 Ω ?2×10 ^19 Ω ※電阻測量精度由電流量程精度和電壓設(shè)置精度規(guī)定 |
| 電流限制 | 0.1?250.0 V: 5/ 10/ 50 mA, 251?1000 V: 5/ 10 mA,1001V?： 1.8mA |
| 測量時間設(shè)置 | 延遲時間: 0～9999 ms |
| 功能 | 通道獨立接觸檢查、通道獨立線長補償、通道獨立治具電容開路補償、比較器 |
| 顯示 | LCD顯示(30位，8行)、背光、高壓警告顯示 |
| 接口 | USB, RS-232C, GP-IB |
| 電源 | AC100?240 V , 50/60 Hz, 45 VA |
| 體積及重量 | 330W × 80H × 450D mm, 6.5 kg |
| 附件 | 電源線×1, 使用說明書×1, CD (通訊指令說明書, USB驅(qū)動)×1, EXT I/O用公頭連接器×1 |
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