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高低溫介電溫譜/頻譜測(cè)量系統(tǒng)
一、 概述:
高低溫介電常數(shù)適用于各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì),通過(guò)測(cè)定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù)。該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)金屬新材料性能的應(yīng)用研究科研機(jī)關(guān)、高校、工廠等地方。它是在特殊環(huán)境下,測(cè)量介質(zhì)在該環(huán)境溫度下的介電常數(shù)。
二、技術(shù)指標(biāo):
1、電極直徑:6mm 數(shù)量:4個(gè)
2、電機(jī)屏蔽:內(nèi)徑--304不銹鋼 外徑--聚四氟
3、測(cè)試電極:四通道,可以同時(shí)測(cè)試4路試樣
4、切換頻率:可以自由設(shè)定試樣切換時(shí)間
5、試驗(yàn)方式:手動(dòng)模式 自動(dòng)模式
6、試驗(yàn)數(shù)據(jù):可導(dǎo)出測(cè)試原始數(shù)據(jù),同時(shí)可以輸出測(cè)試曲線及打印試驗(yàn)報(bào)告
7、測(cè)量頻率:以實(shí)際電橋?yàn)闇?zhǔn)
8、溫度范圍:-180°~500°
9、加溫速率:0.5℃--2.5℃/min
10、數(shù) 據(jù) 線:銅鍍銀,低溫屏蔽線
10、機(jī) 箱:Q235鋼板表面高溫噴塑而成
11、儀器供電:AC:220V 50Hz 功率:2KW
12、測(cè)試電橋:安捷倫4294
13、試驗(yàn)環(huán)境:請(qǐng)不要在多塵、多震動(dòng)、日光直曬、有腐蝕氣體下使用。
儀器使用時(shí)應(yīng)遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁場(chǎng),以免干擾實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
三、整機(jī)組成:
1、加溫裝置:采用陶瓷纖維外旦內(nèi)部嵌入加熱絲組成,有著良好地保溫隔熱和升溫性能
2、低溫裝置:采用液氮低溫技術(shù),使實(shí)驗(yàn)艙溫度降到-190°.
3、控制系統(tǒng):可實(shí)現(xiàn)對(duì)溫控升溫、降溫控制,同時(shí)對(duì)4路試樣進(jìn)行切換,實(shí)時(shí)測(cè)控測(cè)試數(shù)據(jù)
4、LCR電橋:20HZ-2MHZ
在測(cè)量之前去掉疊層的外層和內(nèi)層(實(shí)際測(cè)量十層),再進(jìn)行#!量。疊層試樣測(cè)量厚度除以10,得到單層薄膜厚度,取其平均值作為試驗(yàn)結(jié)果,并報(bào)告大值和小值。4.2.1原理:按ISO1991中的第1部分,根據(jù)測(cè)定的質(zhì)量、面積和密度計(jì)算樣品的厚度。分析天平感量。在薄膜卷上取三片長(zhǎng)方形試樣,每片質(zhì)量約300mg。用鋼板尺測(cè)量試樣面積,用分析天平測(cè)量試樣質(zhì)量。按本部分第5章規(guī)定測(cè)量試樣的密度。h——試樣的厚度,m——試樣的質(zhì)量,s——試樣的面積,單位為平方厘米(cm。d——試樣的實(shí)測(cè)密度,單位為克每立方厘米(g/cn?)。取三個(gè)計(jì)算值的中值作為試驗(yàn)結(jié)果,結(jié)果取三位有效數(shù)字。用于評(píng)定成卷供貨的薄膜的變形情況。
薄膜的變形可能有兩種形式,a)偏移/弧形:薄膜平整地展開(kāi)時(shí),b)凹陷:薄膜的局部面積因受拉作,從而會(huì)出現(xiàn)低于總平面的凹陷部分(見(jiàn)圖2和圖3)。規(guī)定兩種方法測(cè)量變形」原理:按ISO4591J991中的第2部分,根據(jù)膜卷的長(zhǎng)度、平均寬度和凈重以及薄膜的密度計(jì)算平均厚度。待定。按ISO1992中第2部分規(guī)定測(cè)定,沿樣品縱向取5m,使薄膜處于放松狀態(tài)1h后,沿縱向等距離測(cè)定寬度五次。記錄每一寬度測(cè)定值,取中值作為該卷的寬度。a)方法A適用于窄的薄膜(小于150mm),其變形主要表現(xiàn)為偏移/孤形;b)方法B適用于較寬的薄膜(大于或等于150mm),其變形主要表現(xiàn)為凹陷。對(duì)于很厚的薄膜,由于其變形主要表現(xiàn)為凹陷。
新款GCWP系列變溫介電譜測(cè)量系統(tǒng)
新款GCWP系列變溫介電譜測(cè)量系統(tǒng)
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