將inVia與眾多制造商的其他分析系統(tǒng)聯(lián)用，可增強(qiáng)其分析能力。

　　為發(fā)揮率，您可以使用兩種或多種技術(shù)分析樣品，而無需在儀器之間轉(zhuǎn)移樣品。使用雷尼紹的相關(guān)光譜儀確保您同時采用兩種技術(shù)對同一點(diǎn)進(jìn)行分析。

　　SPM/AFM：納米分辨率

　　inVia與掃描探針顯微鏡 (SPM) 聯(lián)用，如原子力顯微鏡 (AFM)，可研究材料的化學(xué)和結(jié)構(gòu)性能。用TERS增加納米尺度化學(xué)分辨率，以揭示諸如機(jī)械性能等互補(bǔ)信息。

　　SEM：高放大率圖像和元素分析

　　通過雷尼紹的拉曼SEM-SCA接口，使掃描電鏡具有inVia的拉曼分析能力。使用SEM記錄樣品的高分辨圖像，并使用X射線進(jìn)行元素分析。增加拉曼分析能力，以識別材料和非金屬化合物，即使這些物質(zhì)具有相同的化學(xué)計量結(jié)果也不在話下。

　　納米壓痕：機(jī)械性能測量

　　通過拉曼獲得全面化學(xué)分析，原位直接測量壓痕的相關(guān)機(jī)械性能。

　　CLSM：共焦圖像

　　如果您的樣品具有復(fù)雜的3D結(jié)構(gòu)（或許是生物細(xì)胞），您可以將激光共聚焦掃描顯微鏡 (CLSM) 添加到inVia上，使共焦熒光成像與拉曼化學(xué)成像關(guān)聯(lián)起來。

　　通過聯(lián)用增強(qiáng)能力

　　相關(guān)成像技術(shù)提供隱藏的信息。如需詳細(xì)了解如何將inVia耦合到其他分析系統(tǒng)，請聯(lián)系我們。