德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析。
德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀產(chǎn)品簡介：
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
XDL230 有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器，比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了FISCHER*基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析。
德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀產(chǎn)品應(yīng)用：
測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
測量印刷線路板
分析電鍍?nèi)芤?/span>
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德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀技術(shù)參數(shù)：
通用規(guī)格 | |
設(shè)計用途 | 能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀（EDXPF）， 用于測定超薄鍍層和溶液分析。 |
元素范圍 | 從元素氯（17）到鈾（92） |
配有可選的WinFTM®BASIC軟件時，多時可同時測定24種元素 | |
設(shè)計理念 | 臺式儀器，測量門向上開啟 |
測量方向 | 由上往下 |
X射線源 | |
X射線管 | 帶鈹窗口的鎢管 |
高壓 | 三檔：30KV，40KV，50KV |
孔徑（準(zhǔn)直器） | φ0.3mm 可選：φ0.1mm；φ0.2mm；長方形0.3mm x 0.05mm |
測量點(diǎn)尺寸 | 取決于測量距離及使用的準(zhǔn)直器大小 |
實(shí)際的測量點(diǎn)大小與視頻窗口中顯示的一致 | |
較小的測量點(diǎn)大小約φ0.2mm | |
X射線探測 | |
X射線接收器 | 比例接收器 |
測量距離 | 0~80mm，使用專有保護(hù)的DCM測量距離補(bǔ)償法 |
樣品定位 | |
視頻系統(tǒng) | 高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 |
手動聚焦，對被測位置進(jìn)行監(jiān)控 | |
十字線（帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點(diǎn)尺寸） | |
可調(diào)節(jié)亮度的LED照明，激光光點(diǎn)用于準(zhǔn)確定位樣品 | |
放大倍數(shù) | 40x~160x |
電器參數(shù) | |
電源要求 | 200V，50Hz |
功率 | 很大120W（不包括計算機(jī)） |
保護(hù)等級 | IP40 |
尺寸規(guī)格 | |
外部尺寸 | 寬x深x高（mm）：570x760x650 |
內(nèi)部測量室尺寸 | 寬x深x高（mm）：460x495x（參考“樣品較大高度"部分的說明） |
重量 | 107KG |
環(huán)境要求 | |
使用時溫度 | 10℃~40℃ |
存儲或運(yùn)輸時溫度 | 0℃~50℃ |
空氣相對濕度 | ≤95% 無結(jié)露 |
工作臺 | |
設(shè)計 | 手動X/Y平臺 |
X/Y平臺較大移動范圍 | 92x150mm |
可用樣品放置區(qū)域 | 420x450mm |
Z軸 | 馬達(dá)驅(qū)動 |
Z軸移動范圍 | 140mm |
樣品很大重量 | 20KG |
樣品很大高度 | 140mm |
激光（1級）定位點(diǎn) | 有 |
計算單元 | |
計算機(jī) | 帶擴(kuò)展卡的Windows®計算機(jī)系統(tǒng) |
軟件 | 標(biāo)準(zhǔn)：WinFTM®V.6 LIGHT |
可選：WinFTM®V.6 BASIC，PDM，SUPER | |
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | |
CE合格標(biāo)準(zhǔn) | EN 61010 |
型式許可 | 作為受*保護(hù)的儀器 |
型式許可*符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規(guī)的規(guī)定 | |
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