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JWDL-1型金屬電阻率測(cè)試儀(銅,導(dǎo)電薄膜)

產(chǎn)品二維碼
參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 品牌:
  • 產(chǎn)品類別:電導(dǎo)率儀
  • 所在地:北京市
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時(shí)間:2024-12-02 12:17:02
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  • 最近登錄:2023-11-09
  • 聯(lián)系人:謝偉華
產(chǎn)品簡(jiǎn)介

描述:JWDL-1型金屬電阻率測(cè)試儀是一款針對(duì)于不同金屬材料電阻測(cè)試的專業(yè)設(shè)備,不管是銅金屬材料,導(dǎo)電金屬箔材,金屬片等,柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層都可以采用這款設(shè)備,金屬電阻率測(cè)試方案核心原則:一是可以用專門測(cè)試金屬材料電阻率的鎢針探頭,二是要知道金屬材料的測(cè)試范圍能夠更好的為你選配四探針測(cè)試儀。金屬材料屬于硬質(zhì)材料,必須要選擇碳化鎢針探頭,這種探

詳情介紹

JWDL-1型金屬電阻率測(cè)試儀

關(guān)鍵詞:金屬電阻,導(dǎo)電膜,金屬涂層

金屬材料電阻測(cè)試儀.jpg

JWDL-1型金屬電阻率測(cè)試儀是一款針對(duì)于不同金屬材料電阻測(cè)試的專業(yè)設(shè)備,不管是銅金屬材料,導(dǎo)電金屬箔材,金屬片等,柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層都可以采用這款設(shè)備,金屬電阻率測(cè)試方案核心原則:一是可以用專門測(cè)試金屬材料電阻率的鎢針探頭,二是要知道金屬材料的測(cè)試范圍能夠更好的為你選配四探針測(cè)試儀。金屬材料屬于硬質(zhì)材料,必須要選擇碳化鎢針探頭,這種探頭具有耐磨性好,使用時(shí)間長(zhǎng)。WDL-1型金屬電阻率測(cè)試儀是判斷金屬性質(zhì)的重要設(shè)備,也是材料生產(chǎn)廠家和科研的重要設(shè)備。

一、主要應(yīng)用領(lǐng)域:

1、硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;

2、柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻

3、電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量

4、電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

二、主要技術(shù)參數(shù):

測(cè)量范圍

1、電  阻:1×10-42×105 Ω   ,分辨率:1×10-51×102 Ω

2、電阻率:1×10-42×105 Ω-cm,分辨率:1×10-51×102 Ω-cm

3、方  阻:5×10-42×105 Ω/□,分辨率:5×10-51×102 Ω/

4、電壓量程: 20.00mV2000mV

5、電流量程: 0.1μA,1μA10μA,100µA1mA,10mA,100mA1A

6、誤差:±0.1%讀數(shù)±2

7、材料尺寸:直徑:圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15130mm,

         方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm,

         長(zhǎng)()度:測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H100mm,

         測(cè)量方位: 軸向、徑向均可

8、探頭類型:

9、碳化鎢探針:Φ0.5mm,直線探針間距1.0mm,探針壓力: 02kg 可調(diào)

10、薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,探針壓力: 00.6kg 可調(diào)

11、電源:輸入: AC 220V±10% ,50Hz     耗:<20W

12、外形尺寸:主   機(jī)  220mm(長(zhǎng))×245 mm(寬)×100mm(高)

          重:≤2.5kg

 

導(dǎo)電薄膜.jpg

導(dǎo)電金屬箔材

 

               金屬                        銅金屬材料



我們專業(yè)提供功能材料測(cè)試設(shè)備及測(cè)試服務(wù):

一、壓電材料測(cè)試裝置:ZJ-3型精密D33測(cè)試儀,ZJ-4型寬量程精密D33測(cè)試儀,ZJ-5型疊層壓電測(cè)試儀,ZJ-6型多功能參數(shù)壓電測(cè)試儀,GDPT-900A型高溫壓電測(cè)試系統(tǒng),JKZC-YDZK03A型高精度壓電阻抗分析儀,YDH-1型壓電電荷測(cè)試儀,YDB-03型壓電陶瓷表面電壓測(cè)試儀

二、壓電材料制樣設(shè)備:PZT-JH10/4型壓電陶瓷極化裝置,PZT-JH20/1型粉末極化裝置

PZT-JH30/3型壓電陶瓷及薄膜綜合極化裝置,ZJ-D33-YP15型壓片機(jī)

三、介電材料測(cè)試裝置:GWJDN-600型四通道高溫介電測(cè)試儀,GWJDN-1000型四通道高溫介電測(cè)試儀

四:鐵電材料測(cè)測(cè)試儀:ZT-4A鐵電測(cè)試儀 ,FE-5000型變溫鐵電測(cè)試系統(tǒng),ECM -150型電卡效應(yīng)測(cè)試系,DCD-100型儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng),

五、BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀

高溫功能材料測(cè)試設(shè)備:

GDPT-900A型高溫D33測(cè)試系統(tǒng),GWJDN-1000型四通道高低溫介電測(cè)試儀,HTRT-1000型導(dǎo)電材料高溫電阻率測(cè)試儀,JGWDZ-1000型金屬高溫電阻測(cè)量系統(tǒng),BWGP-2000型變溫光譜測(cè)試系統(tǒng)(高低溫光譜系統(tǒng)),FSR-600材料高溫雙波段發(fā)射率測(cè)量系統(tǒng),TSDC/TSC--400 型熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng),GWTF-300高溫鐵電材料測(cè)量系統(tǒng)  ,HTGSRM-1000型高溫氣敏材料測(cè)量系統(tǒng),PTC/NTC-500高溫?zé)崦綦娮璨牧蠀?shù)測(cè)量分析系統(tǒng),HTRS-1000型高溫半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀,PRPM-1000熱釋電系數(shù)高溫測(cè)試系統(tǒng),HTRC-600型高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試系統(tǒng),

 


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