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JKZC-DM系列基礎型探針臺

|產(chǎn)品概要

JKZC-DM系列探針臺是我司一款基于高校教育與實驗室而研發(fā)的基礎型晶圓測試探針臺。其結構緊湊，設計精密，價格實惠，配置靈活，高性價比。在高等院校教學和小型實驗室科研過程中得到了廣泛運用，配合對應的儀器儀表，用于測試各類器件的IV、CV、l-t、V-t,光電信號，1/f噪聲測試，器件表征測試，RF射頻等。如果您的測試器件pad電極大于50um,此系列探針臺。

|技術特點

•整機一體化設計，結構緊湊占地小，可放置于手套箱內使用；

•自適應減震底座設計，可有效過濾環(huán)境中的震動源干擾；

• U型平臺鍍鎳設計，增大針座加載空間的同時還提高了針座平臺和針座之間的吸附力。

詳細參數(shù)

產(chǎn)品型號技術參數(shù)		JKZC-DM4	JKZC-DM6	JKZC-DM8
探針臺臺體	主體材料	航空鋁	航空鋁	航空鋁
	整機尺寸（mm）	500L380W520H	550L420W520H	600L480W520H
	重量	30kg	35kg	50kg
	自適應減震系統(tǒng)	自適應減震底座設計，可有效過濾環(huán)境中的震動源干擾
	卡盤大小	4英寸,360度轉動，可微調	6英寸,360度轉動，可微調	8英寸,360度轉動，可微調
	卡盤XY軸行程	4英寸*4英寸，精度10um	6英寸*6英寸，精度10um	6英寸*6英寸，精度10um
	卡盤Z軸行程	快速升降5mm,微調升降行程6mm,精度丄微米（選件）
	卡盤材質	不銹鋼鍍金，具備更小的接觸電阻
	卡盤吸附方式	真空吸附，可選擇環(huán)形吸附或者多孔吸附（適用于薄片）
	背電極測試功能	卡盤鍍金，電學獨立懸空，帶2個4mm香蕉頭插口，具備背電極功能
	其它功能	帶標準接地保護，可升級
針座平臺	材質	U型平臺，Q235鍍療，帶接地端子
	大小	最多可放置4個探針座	最多可放置6個探針座	最多可放置8個探針座
顯7F系統(tǒng)	顯微鏡類型	體式顯微鏡/視頻顯微鏡+CCD成像系統(tǒng)
	倍率范圍	16X~200X/40X~280X
	調焦范圍	50.8mm
	顯微鏡移動	顯微鏡可繞立柱360度旋轉，帶2英寸高精度顯微鏡調焦機構，帶顯示器支架
	CCD成像系統(tǒng)	2k或者4K相機，幀率60fps,帶拍照/錄像/測量功能等功能
探針座	種類	絲桿型/微分頭型/經(jīng)濟型探針座
	X-Y-Z行程	12.5mm-12.5mm-12.5mm
	機械精度	0.5um/0.7um/2um
夾具	漏電精度	同軸夾具10pA/三軸夾具lOOfA
	接口形式	同軸/三軸/SMA/香蕉頭/鱷魚夾/裸線等接口
其它	選件	屏蔽箱/防震桌/射頻系統(tǒng)/同軸/三軸加熱卡盤/顯微鏡萬向支架等
	電力需求	220V/50HZ

搭配產(chǎn)品/半導體參數(shù)分析儀我們經(jīng)過近10年的發(fā)展,在測試儀器與探針臺的搭配方面具備十分豐富的經(jīng)驗。半導體參數(shù)分析儀方面，我們和是德科技(Keysight)、泰克(Tektronix)、概倫電子(PRIMARIUS)等公司的半導體參數(shù) 分析儀有過多次搭配經(jīng)驗，系列型號有Keysight B1500A、Keith ley 4200A-SCS、PRIMARIUS FS-Pro等,并為用戶提供半導體參數(shù)分析儀與探針臺集成測試方案和服務。半導體參數(shù)分析儀.jpg

搭配產(chǎn)品/矢量網(wǎng)絡分、析儀依靠與儀器設備廠商和設備集成經(jīng)銷商所保持良好的合作關系，我司可為用戶提供是德科技(Keysight)、中電思儀(Ceyear)等公司的網(wǎng)絡分析儀和模塊，有 Keysight E5063A/E5072A/E5061B/E5080B ENA、Keysight(N522x/3x/4xB) PNA、Keysight N5290A/ N5291A、 Ceyear 3762A/B/C-S、Ceyear 3671C/D/E 等,各系列型號的矢量網(wǎng)絡分析儀和毫米波網(wǎng)絡分析儀，涵蓋不同測量頻率范圍、性能和功能，并為用戶提供網(wǎng)絡分析儀與探針臺集成測試方案和服務,具備豐富的測試經(jīng)驗。、