電磁脈沖HT測試報告(具有新表面保護層的探頭)

1. 簡介和測試程序

2. 測試結(jié)果和記錄

3. 總結(jié)和初步結(jié)論

1. 介紹

測 試 前 表 面 保 護 材 料 的 前 景 :

（二 ） 測 試 程 序 :

測 試 條 件 1 :

帶 表 面 保 護 復(fù) 合 材 料 :

每次測量持續(xù)幾秒鐘，并在顯示厚度值時離開熱表面。將探頭在空氣中冷卻

幾秒鐘（有時空氣吹氣），然后觸摸熱探頭

再次進行第二次測量的表面。

首先在200°C下測試，然后將探頭冷卻至RT，然后在400°C下測試， 下一個計劃的HT。對400C ，600C和800C進行了類似的測試

(a) 在高溫下測試之前，確認探頭在室溫下的功能。

(b) 在200C下進行測試（每個探頭用于在HT下測量厚度3次）。冷卻至室溫。

(c) 在400C下進行測試（每個探頭用于在HT下測量厚度3次）。冷卻至室溫。

(d) 在600C下進行測試（每個探頭用于在HT下測量厚度3次）。冷卻至室溫。

(e) 在800C下進行測試（每個探頭用于在HT下測量厚度3次）。冷卻至室溫。

測 試 條 件 2 :

無表面保護的白色復(fù)合材料 :

去除表面保護復(fù)合材料。

每次測量持續(xù)幾秒鐘，并在顯示厚度值時離開熱表面。在空氣中冷卻探頭（有時空氣吹氣） 對于幾秒和觸摸熱表面再次測量。

(a) 在高溫下測試之前，確認探頭在室溫下的功能。

(b) 在200C下進行測試（每個探頭用于在HT下測量厚度3次）。冷卻至室溫。

(c) 在400C下進行測試（每個探頭用于在HT下測量厚度3次）。冷卻至室溫。

(d) 在600C下進行測試（每個探頭用于在HT下測量厚度3次）。冷卻至室溫。

(e) 在800C下進行測試（每個探頭用于在HT下測量厚度3次）。冷卻至室溫。

2. 測 試 結(jié) 果 和 記 錄 :

Fig. 1圖1顯示了表面帶有白色復(fù)合保護的探頭和測試前的測試樣品外觀（碳鋼）。

Fig. 2 它表明探頭在厚度測量中正常工作

其他測試請看相關(guān)下載

3. HT測試的總結(jié)和結(jié)論

1. 在測試高達800C的帶和不帶保護FPR層后，由新保護層制成的表面層顯示出接觸面剩余的聲 音，并且可以很好地發(fā)揮作用。

2. 探 頭 表 面 有 復(fù) 合 保 護 布 :

(1)在200C時，所有探頭都沒有問題，甚至表面外觀也沒有受到影響

在400C-600C下，所有探頭都沒有問題，表面顯示出某種棕色痕跡。在800°C下，所有 探頭都沒有問題，表面顯示出黑色痕跡。

(2) 在800°C下完成去除白色復(fù)合布的測試后，它表明表層幾乎沒有影響。

(3) 測試溫度高達860°C后，被測探頭在室溫下正常工作。

3. 探頭表面無白色玻璃鋼復(fù)合保護布（用于新型表面保護）：

(1) 在200C和400C下，所有探頭都沒有問題，在200C和400C下測試之前，表面外觀保持不 變

(2) 在600°C時，表層開始以某種方式顯示出融化的棕色粘稠液體（表面上粘稠。熔融的棕色 和粘稠液體不影響被測探頭的功能，表層保持良好，除了其上粘性膠狀液體的棕色。

(3) 在800°C時，帶有新保護層的EMAT探頭仍然保持完好，完整且功能良好。

(4) 與之前帶有新表面保護層的EMAT探頭相比，本次HT測試的測試探頭除了在溫度超過 600C下測試后表面殘留的粘性液體痕跡外，對探頭性能沒有影響，

(5) 與之前的測試相同，新的保護層在超過800C的測試后，可以在UTM的室溫下正常工作

總 結(jié) :

1. 測試結(jié)果表明，新的保護面層可用于800C以上的HT表面接觸，而無需額外的FRP復(fù)合布 保護。

2. 測試進行了很短的時間。不建議長期高溫接觸。

3. 所有測試都是為了短時間（在幾秒鐘內(nèi)）接觸熱表面并立即離開表面，同時測量的厚度 顯示在A1270屏幕上。在次接觸的幾到10秒后再次接觸熱表面。