SEM高溫疲勞試驗(yàn)機(jī)是帶掃描電子顯微鏡的疲勞試驗(yàn)機(jī)。用于在疲勞試驗(yàn)過(guò)程中動(dòng)態(tài)時(shí)實(shí)觀測(cè)樣品表面的微觀破壞。可進(jìn)行拉-拉、拉-壓、三點(diǎn)彎曲疲勞試驗(yàn)及800℃以下的高溫試驗(yàn)。

特  點(diǎn)

1. 電子顯微鏡SEM與試驗(yàn)機(jī)采用一體化結(jié)構(gòu)，具有高防振效果。
2. 可以在利用SEM觀察的同時(shí)，進(jìn)行裂紋擴(kuò)展觀察試驗(yàn)。
3. 可以在常溫～800℃溫度范圍內(nèi)，重復(fù)向樣品加載。
4. 試驗(yàn)過(guò)程中，可以使SEM的視野與樣品的變形同步。

規(guī)  格

試驗(yàn)載荷：±5KN
zui大位移：±10mm
試驗(yàn)溫度：室溫～800℃
SEM分辨率：3.4nm
放大倍率：×20～30萬(wàn)倍
觀測(cè)范圍：6mm～16mm

   用  途

適合金屬、陶瓷、巖石材料的常溫、高溫疲勞性能測(cè)試和樣品表面形貌、裂紋擴(kuò)展的測(cè)試。