光學(xué)視角檢測儀—近紅外光源測量

低成本和緊湊的3D成像技術(shù)在人臉識別、機(jī)器視覺或等各種應(yīng)用領(lǐng)域的巨大發(fā)展，對近紅外光源的表征提出了新的要求。在任何情況下，為了獲得精確的三維圖像，必須對其所有角度孔徑范圍內(nèi)的光源發(fā)射特性進(jìn)行精確表征和快速測量。

光學(xué)視角測試儀VCProbe-NIR-STG是為近紅外中發(fā)光的DUT分析而優(yōu)化的。 光學(xué)視角測試儀VCProbe-NIR-STG的設(shè)計是為了精確測量泛光照明器件、立體成像、照明器件的特性。  

光學(xué)視角測試儀VCProbe-NIR-STG是測量小孔徑近紅外源的理想工具，并為近紅外源如LED和激光器提供了一個有效的測量解決方案。

該系統(tǒng)可以在±70°視角錐內(nèi)獲得完整的地圖，具有良好的角度分辨率，工作距離為4mm，允許非接觸式測量。

推薦用于2.5 mm初始光瞳發(fā)射器。

DXY +/- 1mm的重復(fù)誤差優(yōu)于1%的位置，便于在線定位。

光學(xué)視角檢測儀VCProbe-NIR-STG校準(zhǔn)波長為940 nm，可用于研發(fā)和批量生產(chǎn)/質(zhì)檢應(yīng)用，實現(xiàn)高速和精確的測量。

光學(xué)視角測試儀VCProbe-NIR-DSD是專門為精確測量近紅外源的小孔徑而設(shè)計的。該系統(tǒng)可以測量激光雷達(dá)、閃光激光雷達(dá)、激光二極管和VCSEL等各種光源。

該系統(tǒng)具有非接觸式測量，在一次測量中，產(chǎn)生±32°的視角，提供了顯著的0.05°的角度分辨率。
這是一個為單個VCSEL優(yōu)化的系統(tǒng)，工作距離為40mm。光學(xué)視角檢測儀VCProbe-NIR-DSD允許高速和精確的測量應(yīng)用研發(fā)以及批量生產(chǎn)/質(zhì)檢。

光學(xué)視角測試儀型號規(guī)格：

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