自1998年以來,NT-MDT已成功地將AFM與光學顯微鏡和光譜技術相集成。支持包括HybriD ModeTM在內的30多種基本和AFM模式,可提供有關樣品表面物理性質的廣泛信息。 AFM與共焦/熒光顯微鏡的集成提供了有關樣品的更多信息。
相同的樣品區(qū)域同時測量的AFM和拉曼圖可提供有關樣品物理性質(AFM)和化學成分(Raman)的補充信息。
NTEGRA Spectra II借助增強拉曼散射(TERS),可以進行納米級分辨率的光譜學/顯微術。特制的AFM探針(納米天線)可用于TERS,以增強和定位附近納米級區(qū)域的光。
這種納米天線充當光的“納米源",從而提供了光學成像的可能性,其分辨率小于衍射極限(max?10 nm)。掃描近場光學顯微鏡(SNOM)是獲得旋光性樣品的光學和光譜圖像的另一種方法,其分辨率受探針孔徑大?。?100 nm)限制。
NT-MDT 原子力顯微鏡系統(tǒng)光路圖
所有可能的激發(fā)/檢測和TERS的解決方案
應用
CdS納米線通過導電聚合物納米線與金屬電極連接。 AFM探針借助觀察顯微鏡定位在結構上。 由于AFM探針的形狀,激光可以直接定位在頂點上。
高分辨率AFM圖像可提供有關樣品形貌的信息。 從同一區(qū)域獲取的拉曼圖和發(fā)光圖顯示出納米線化學成分的差異。
光學圖片
原子力顯微鏡掃描圖 拉曼掃描圖 熒光掃描圖 拉曼譜
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