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多功能衍射儀DX-2700BH

產(chǎn)品二維碼
參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 品牌:
  • 產(chǎn)品類別:其它分析儀器
  • 所在地:南京市
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時(shí)間:2025-01-12 09:07:45
  • 瀏覽次數(shù):1
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  • 經(jīng)營(yíng)模式:其他
  • 商鋪產(chǎn)品:2638條
  • 所在地區(qū):
  • 注冊(cè)時(shí)間:2014-06-25
  • 最近登錄:2023-12-06
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品介紹INTRODUCTION組合式多功能X射線衍射儀和高分辨率X射線衍射儀廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域

詳情介紹

產(chǎn)品介紹INTRODUCTION

組合式多功能X射線衍射儀和高分辨率X射線衍射儀廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域。

分析的材料包括:金屬材料、無機(jī)材料、復(fù)合材料、有機(jī)材料、納米材料、超導(dǎo)材料。

可以分析的材料狀態(tài)包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品。

廣泛應(yīng)用于粘土礦物、水泥建材、環(huán)境粉塵、化工制品、藥品、石棉、巖礦、聚合物等研究領(lǐng)域。

特點(diǎn)FEATURES

DX系列衍射儀是為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設(shè)計(jì)的,是常規(guī)分析與特殊目的測(cè)量相結(jié)合的完善產(chǎn)品。

  • 硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的結(jié)合,滿足不同應(yīng)用領(lǐng)域?qū)W者、科研者的需要
  • 高精度的衍射角度測(cè)量系統(tǒng),獲取更準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果
  • 高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng),得到更穩(wěn)定的重復(fù)測(cè)量精度
  • 各種功能附件滿足不同測(cè)試目的需要
  • 程序化操作、一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),操作簡(jiǎn)便、儀器外型更美觀


X射線衍射儀是揭示材料晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息的一種通用性測(cè)試儀器:

  • 未知樣品中一種和多種物相鑒定
  • 混合樣品中已知相定量分析
  • 晶體結(jié)構(gòu)解析(Rietveld結(jié)構(gòu)分析)
  • 非常規(guī)條件下晶體結(jié)構(gòu)變化(高溫、低溫條件下)
  • 薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度
  • 微區(qū)樣品的分析
  • 金屬材料織構(gòu)、應(yīng)力分析

完善的品質(zhì)與性能的結(jié)合。

  • DX系列衍射儀除了基本功能外,可快速配置各種附件,具有的分析能力
  • 高精度的機(jī)械加工,使附件安裝位置的重現(xiàn)性極大地提高,軟件自動(dòng)識(shí)別相應(yīng)附件,不需要對(duì)光路進(jìn)行校準(zhǔn),附件安裝實(shí)現(xiàn)即插即用,的操作就可滿足特殊目的測(cè)量的需要。

高性能與實(shí)用的結(jié)合。

  • 基于θ-θ幾何光學(xué)設(shè)計(jì),便于樣品的制備和各種附件的安裝
  • 金屬陶瓷X射線管的應(yīng)用,極大提高衍射儀運(yùn)行功率
  • 封閉正比計(jì)數(shù)器,耐用免維護(hù)
  • 硅漂移探測(cè)器具有的角度分辨率和能量分辨率,測(cè)量速度提高3倍以上
  • 豐富的衍射儀附件,滿足不同分析目的需要
  • 衍射儀各種功能附件自動(dòng)識(shí)別
  • 模塊化設(shè)計(jì)或稱即插即用組件,操作人員不需要校正光學(xué)系統(tǒng),就能正確使用衍射儀相應(yīng)附件

功能FUNCTION

數(shù)據(jù)處理軟件包括以下功能:

  • 基本數(shù)據(jù)處理功能(尋峰、平滑、背景扣除、峰形擬合、峰形放大、譜圖對(duì)比、Kα1、α2剝離、衍射線條指標(biāo)化等)
  • 無標(biāo)準(zhǔn)樣品快速定量分析
  • 晶粒尺寸測(cè)量
  • 晶體結(jié)構(gòu)分析(晶胞參數(shù)測(cè)量和精修)
  • 宏觀應(yīng)力測(cè)量和微觀應(yīng)力計(jì)算
  • 多重繪圖的二維和三維顯示
  • 衍射峰圖群聚分析
  • 衍射數(shù)據(jù)半峰寬校正曲線
  • 衍射數(shù)據(jù)角度偏差校正曲線
  • 基于Rietveld常規(guī)定量分析
  • 使用ICDD數(shù)據(jù)庫(kù)或是用戶數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行物相定性分析
  • 使用ICDD數(shù)據(jù)庫(kù)或是ICSD數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行定量分析
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