產(chǎn)品介紹
SYCATUS 提供用于光頻率噪聲測量的 A0040A 光噪聲分析儀。
隨著數(shù)字相干傳輸技術(shù)的發(fā)展，激光源的光譜純度已成為重要的問題。另一方面，高功能激光源（如 ITLA）由于與電子器件或復(fù)雜的控制方案集成在一起，也面臨著電磁干擾引起的光頻波動問題。
激光線寬測量是評估激光源光譜純度的傳統(tǒng)方法。然而，激光線寬不足以分析光頻噪聲的成分。由于數(shù)字相干傳輸系統(tǒng)中的 DSP 用于頻率偏移補(bǔ)償?shù)膸捰邢?，因此須使用頻譜分析來代替激光線寬測量。
A0040A 光學(xué)噪聲分析儀通過結(jié)合 SYCATUS 的方法和 Keysight X 系列信號分析儀，能夠以功率譜密度的形式捕捉光學(xué)頻率噪聲特性。
性能特點(diǎn)
- 以功率譜密度捕捉光頻噪聲。
- 1/f 噪聲、白噪聲和洛倫茲線寬分析。
- 高靈敏度 < 1KHz 線寬測量。
- 包括傳統(tǒng)的延遲自外差干涉儀功能。
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)地：日本
光波長范圍：1520-1620 nm、1260-1360 nm或 1260-1620 nm
光頻噪聲分析帶寬：min.5Hz
Max.12.5 MHz、20 MHz、80 MHz、127.5 MHz 或 255 MHz
(取決于信號分析儀的規(guī)格）
噪音下限：6 mHz-rms2/Hz（@1 MHz，標(biāo)準(zhǔn)模式）
0.6 mHz-rms2/Hz（1 MHz，高靈敏度模式）
輸入光功率范圍：-7 dBm 至 +3 dBm
測量時間：<20 秒（標(biāo)準(zhǔn)模式，50 個平均值）
<0.5 秒（高速掃描模式，50 個平均值）
線寬測量：< 1KHz
捕捉形式：功率譜密度
分析內(nèi)容：1/f 噪聲、白噪聲和洛倫茲線寬
附加功能：延遲自外差干涉儀
產(chǎn)品參數(shù)
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