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當前位置：江蘇天瑞儀器股份有限公司>>鍍層/膜厚測厚儀>> 中天瑞儀器X熒光光譜測厚儀
| 項 目 | 參 數(shù) |
| 測量元素范圍 | Cl（17）-U（92） |
| 涂鍍層分析范圍 | P（15）-U（92）可區(qū)分檢測電鍍鎳和化學鎳 |
| 分析軟件 | EFP，可同時分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析 |
| 軟件操作 | 人性化封閉軟件，自動提示校正和步驟，避免操作錯誤 |
| X射線裝置 | W靶微聚焦加強型射線管 |
| 準直器 | ? 0.05 mm ；? 0.1 mm；? 0.2 mm；? 0.5 mm；四準直器自動切換 |
| 近測距光斑擴散度 | 10% |
| 測量距離 | 具有距離補償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm) |
| 樣品觀察 | 1/2.5彩色CCD，變焦功能 |
| 對焦方式 | 高敏感鏡頭，手動對焦 |
| 放大倍數(shù) | 光學38-46X，數(shù)字放大40-200倍 |
| 樣品臺尺寸 | 500mm*360mm |
| 移動方式 | 高精密XY手動滑軌 |
| 可移動范圍 | 50mm*50mm |
| 隨機標準片 | 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um |
| 其它附件 | 聯(lián)想電腦套、噴墨打印機、附件箱 |
廠家介紹
X熒光測厚儀生產(chǎn)生產(chǎn)廠家——江蘇天瑞股份有限公司，新款Thick 8000X熒光測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的款新型鍍層膜厚測試儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。金屬鍍層分析儀俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、XRF鍍層測厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等，主要用于精密測量金屬電鍍層的厚度。功能：精密測量金屬電鍍層的厚度；應(yīng)用范圍：測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成。
測量范圍從22(Ti)到92(U);5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光譜定性分析;測試方法面符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987
鍍層測厚儀展廳
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