掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導電材料的功函或半導體或絕緣體材料表面的表面電勢，表面功函由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界分辨率的測試系統(tǒng)。

我們的開爾文探針系統(tǒng)包括：
□   單點開爾文探針(大氣環(huán)境及氣氛控制環(huán)境)；
□   掃描開爾文探針(大氣環(huán)境及氣氛控制環(huán)境)；
□   超高真空(UHV)開爾文探針；
□   濕度控制的腐蝕開爾文探針；

主要特點：
● 功函分辨率< 3meV
● 掃描面積：5mm to 300mm（四種型號，每種型號掃描面積不同）
● 掃描分辨率：317.5nm
● 自動高度調(diào)節(jié)
應用領(lǐng)域：
● 有機和非有機半導體
● 金屬
● 薄膜
● 太陽能電池和有機光伏材料
● 腐蝕
升級附件：
● 空氣光發(fā)射系統(tǒng)
● 表面光電壓(QTH or LED)
● SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
● 金或不銹鋼探針，直徑0.05mm to 20mm
● 相對濕度控制和氮氣環(huán)境箱