平行平晶
高精度的平面性和平行性測量用平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。
平行平晶具有高精度的平面性和平行性。
高精度的平面性和平行性測量用平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列，每個系列各分六組，每組四塊。
功能：平行平晶用于干涉法測量千分尺、卡規(guī)和千分表等測量面平面度、平面平行度。
產(chǎn)品規(guī)格：
每組平行平晶共四塊，分四個尺寸系列組
測量面上平面度偏差：<0.1μm
平面度局部偏差： >0.03μm
測量面平行度誤差： 組Ⅰ系列允差值：0.06μm
組Ⅱ、Ⅲ系列允差值：0.08μm
組Ⅳ系列允差值：0.1μm
組Ⅰ | 平行平晶 | 0－25mm | 4塊/組 |
組Ⅱ | 平行平晶 | 25－50mm | 4塊/組 |
組Ⅲ | 平行平晶 | 50－75mm | 4塊/組 |
組Ⅳ | 平行平晶 | 75－100mm | 4塊/組 |
平行平晶尺寸系列表
組號 | 0－25 | 25－50 | 50－75 | 75－100 |
1 | 15.00，15.12 15.25，15.39 | 40.00，40.12 40.25，40.37 | 65.00，65.12 65.25，65.37 | 90.00，90.12 90.25，90.37 |
2 | 15.12，15.25 15.37，15.50 | 40.12，40.25 40.37，40.50 | 65.12，65.25 65.37，65.50 | 90.12，90.25 90.37，90.50 |
3 | 15.25，15.37 15.50，15.62 | 40.25，40.37 40.50，40.62 | 65.25，65.37 65.50，65.62 | 90.25，90.37 90.50，90.62 |
4 | 15.37，15.50 15.62，15.75 | 40.37，40.50 40.62，40.75 | 65.37，65.50 65.62，65.75 | 90.37，90.50 90.62，90.75 |
5 | 15.50，15.62 15.75，15.87 | 40.50，40.62 40.75，40.87 | 65.50，65.62 65.75，65.87 | 90.50，90.62 90.75，90.87 |
6 | 15.62，15.75 15.87，16.00 | 40.62，40.75 40.87，41.00 | 65.62，65.75 65.87，66.00 | 90.62，90.75 90.87，91.00 |
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