產(chǎn)品規(guī)格:
等級 | 長度L | 人工缺陷槽深度t |
I | 40 | 公稱壁厚的5%,zui小為0.2,zui大為1.2 |
II | 40 | 公稱壁厚的8%,zui小為0.2,zui大為2.0 |
III | 40 | 公稱壁厚的10%,zui小為0.2,zui大為3.0 |
SBS-3滲透探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 不銹鋼鍍鉻滲透標(biāo)準(zhǔn)試塊 鋁合金滲透對比試塊 D型磁粉探傷用試片
M1型磁粉檢測試片 小徑管試塊 階梯試塊 荷蘭試塊 LS-1螺栓試塊 YM-D型滲透試塊(不銹鋼條紋試塊)
YM-B5型滲透試塊(不銹鋼五點(diǎn)試塊) YM-B3型滲透試塊(不銹鋼三點(diǎn)試塊) YM-A型滲透試塊
TD型磁場指示器(八角試塊) E型交流標(biāo)準(zhǔn)試塊(3孔試塊) B型直流標(biāo)準(zhǔn)試塊(12孔試塊)
C型磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片 A1型磁粉探傷試片 GB/T18851-II著色滲透試塊 鍍鉻輻射裂紋參考試塊
CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSK-IA超聲波檢測試塊
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