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雙晶片直探頭檢驗用對比試塊

產(chǎn)品二維碼
參  考  價:面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號:GB/T2970-2004
  • 品牌:
  • 產(chǎn)品類別:探傷儀|探測儀
  • 所在地:上海市
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時間:2022-04-30 07:50:02
  • 瀏覽次數(shù):8
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  • 經(jīng)營模式:經(jīng)銷商
  • 商鋪產(chǎn)品:2359條
  • 所在地區(qū):上海上海市
  • 注冊時間:2020-12-29
  • 最近登錄:2020-12-29
  • 聯(lián)系人:周先生 ( QQ:708843911)
產(chǎn)品簡介

板厚小于等于60mmGB/T2970-2004雙晶片直探頭檢驗用對比試塊,無損檢測試塊 超聲波探傷試塊 超聲波檢測試塊 *試塊,100*100*16mm--X型焊縫自然缺陷試塊

詳情介紹

板厚小于等于60mmGB/T2970-2004雙晶片直探頭檢驗用對比試塊

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焊接缺陷試塊JB/T4730.10
T形坡口焊縫自然缺陷試塊

無損檢測試塊 超聲波探傷試塊 超聲波檢測試塊 *試塊
00*100*16mm--X型焊縫自然缺陷試塊

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