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微型磁軛探傷儀 Leeb610探傷儀 四川成都Leeb610微
TIME1100超聲波探傷儀功能特點
峰值記憶功能
快速旋鈕調(diào)節(jié)、操作便捷
A、B型顯示方式
缺陷當量計算
具有回波包絡(luò)顯示功能
具有防水功能
EL高亮圖形點陣顯示屏、無視角限制、不受溫度陽光影響
多達10個獨立探傷通道
能夠存儲500幅A掃描圖形
具有獨立的雙閘門設(shè)置和報警功能
鋰電池、無記憶性,連續(xù)工作時間可達8小時以上
探頭角度和K值兩種輸入方式
可以直接驅(qū)動U盤
能夠跟PC機通訊,有功能強大的Windows數(shù)據(jù)處理軟件
重復(fù)發(fā)射頻率可以達到1KHz
超高的采樣頻率,射頻波形細節(jié)盡現(xiàn)
具有波形凍結(jié)功能
TIME1100超聲波探傷儀技術(shù)參數(shù)
探測范圍:2.5~ 5000mm
材料聲速:1000~ 9999m/s
工作頻率:0.2~15MHz(低頻0.2~1,中頻0.5~4,高頻2~15)
增益調(diào)節(jié):110dB(0.2、0.5、1、2、6、12步進)
動態(tài)范圍:≥ 34dB
垂直線性誤差:≤ 3%
水平線性誤差:≤ 0.2%
靈敏度余量:≥60dB(深200mmΦ2平底孔)
數(shù)字抑制:(0 ~ 80)%,不影響線性與增益
檢波方式:正半波,負半波,全波和射頻
脈沖移位:—20μs~3400μs
探頭延遲:0~99.99μs,分辨率0.0125μs
掃描分辨率:0.1mm(2.5~ 99.99mm), 1mm(100~ 5000mm)
外形尺寸:243×173×85mm
重量:1.5Kg(含電池)
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